特許
J-GLOBAL ID：201303022241399291
線量率計測システム及び線量率計測方法
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
井上 学
, 戸田 裕二
, 岩崎 重美
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-284699
公開番号（公開出願番号）：特開2013-134157
出願日： 2011年12月27日
公開日（公表日）： 2013年07月08日
要約：
【課題】光ファイバを利用した線量モニタにおいて、光ファイバ長による減衰とバックグラウンドによるSN劣化を低減する計測装置及びその方法を提供する。【解決手段】放射線量を検出する放射線検出部と、放射線検出部に刺激光を照射する光源と、放射線検出部で発生した光を検出する光検出器と、放射線検出部と光源及び光検出器を接続し、光源からの光及び放射線検出部からの光を伝送する光ファイバと、光検出器から出力されるパルスを計数する計測装置と、計測装置で得られた測定結果である時刻情報、波高情報及び計数値から放射線検出部由来の光量を抽出し、線量及び線量率に換算する解析装置を備える。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
放射線検出部と、前記放射線検出部に刺激光を光ファイバを介して照射する光源と、光ファイバを介して伝送される前記放射線検出部で発生した光を検出する光検出器と、前記光検出器から出力されるパルスを計数すると共に付帯情報を得る計測装置と、前記計測装置で得られた測定結果の時刻情報、波高情報及び計数値から放射線検出部由来の光量を抽出し、線量及び線量率に換算する解析装置を備えることを特徴とする線量率計測システム。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (10件)：
2G088AA02
, 2G088AA03
, 2G088EE09
, 2G088EE10
, 2G088GG15
, 2G088JJ08
, 2G088KK27
, 2G088KK29
, 2G088KK35
, 2G088LL11
審査官引用 (8件)
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放射線強度分布測定装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平8-240131
出願人：株式会社日立製作所
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特開昭61-226677
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放射線強度計測装置
公報種別：公開公報
出願番号：特願平10-038332
出願人：株式会社日立製作所
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