特許
J-GLOBAL ID：201303024179305601

焦点検出装置及びその制御方法

発明者：
木村 正史

木村 正史 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (6件)： 大塚 康徳 ,  高柳 司郎 ,  大塚 康弘 ,  木村 秀二 ,  下山 治 ,  永川 行光
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-227420
公開番号（公開出願番号）：特開2013-041294
出願日： 2012年10月12日
公開日（公表日）： 2013年02月28日
要約：
【課題】欠陥画素を有する場合であっても合焦時の精度が低減することを防止可能とする。【解決手段】撮像光学系による結像面の焦点状態を検出する焦点検出装置において、複数の第1の焦点検出用画素と複数の第2の焦点検出用画素から構成され、第1の焦点検出用画素と第2の焦点検出用画素とが構成する焦点検出用画素対を複数有する焦点検出センサと、焦点検出センサの欠陥画素を示す欠陥情報を記憶する欠陥記憶部と、欠陥情報が示す欠陥画素の値と、欠陥画素と焦点検出用画素対を構成する第1の焦点検出用画素又は第2の焦点検出用画素の値とを、焦点状態の検出に用いないように排除する排除部と、排除部による排除後の複数の焦点検出用画素対の第1の焦点検出用画素から得られる第1の焦点検出像と、第2の焦点検出用画素から得られる第2の焦点検出像との位相差から、焦点状態を検出する検出部とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
撮像光学系による結像面の焦点状態を検出する焦点検出装置において、 複数の第1の焦点検出用画素と複数の第2の焦点検出用画素から構成され、前記第1の焦点検出用画素と前記第2の焦点検出用画素とが構成する焦点検出用画素対を複数有する焦点検出センサと、 前記焦点検出センサの欠陥画素を示す欠陥情報を記憶する欠陥記憶手段と、 前記欠陥情報が示す欠陥画素の値と、当該欠陥画素と前記焦点検出用画素対を構成する前記第1の焦点検出用画素又は前記第2の焦点検出用画素の値とを、前記焦点状態の検出に用いないように排除する排除手段と、 前記排除手段による排除後の前記複数の焦点検出用画素対の前記第1の焦点検出用画素から得られる第1の焦点検出像と、前記第2の焦点検出用画素から得られる第2の焦点検出像との位相差から、前記焦点状態を検出する検出手段と、 を備えることを特徴とする焦点検出装置。
IPC (3件)：
G02B 7/34 ,  G03B 13/36 ,  H04N 5/232
FI (3件)：
G02B7/11 C ,  G03B3/00 A ,  H04N5/232 H
Fターム (20件)：
2H011BA23 ,  2H151BA04 ,  2H151BA06 ,  2H151BA07 ,  2H151CB08 ,  2H151CB09 ,  2H151CB10 ,  2H151CB22 ,  2H151CD01 ,  2H151CD30 ,  2H151CE24 ,  5C122DA03 ,  5C122EA14 ,  5C122EA37 ,  5C122FB03 ,  5C122FD01 ,  5C122FD07 ,  5C122GA34 ,  5C122HB01 ,  5C122HB06
引用特許：
出願人引用 (5件)
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