特許
J-GLOBAL ID:201303034690667134

光強度測定器のキャリブレーション方法及び装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 廣瀬 隆行
公報種別:特許公報
出願番号(国際出願番号):特願2005-344034
公開番号(公開出願番号):特開2007-148119
特許番号:特許第4753137号
出願日: 2005年11月29日
公開日(公表日): 2007年06月14日
請求項(抜粋):
【請求項1】 光強度変調器(2)からの出力の経路を切替える光スイッチ(3)と, 前記光スイッチによって切替えられる第1の導波路(4)上に設けられた光減衰器(5)と, 前記光スイッチによって切替えられる第2の導波路(6)と, 前記2つの導波路(4,6)と接続され,前記2つの導波路(4,6)を伝播する光の強度を測定する光強度測定器(7)と, 前記光強度測定器(7)が測定した光強度を受取ると共に,前記光強度変調器(2)に印加する信号を制御するための制御装置(8)と, 前記制御装置(8)の制御信号を受けて前記光強度変調器(2)に印加する信号を調整する信号源(9)と,を具備し, 前記制御装置(8)は, 前記光スイッチ(3)を調整して,導波路を第1の導波路(4)となるようにし,前記光減衰器(5)に,第1回目の光減衰を所定量で行わせ, 前記光強度測定器(7)が測定した前記第1回目の光減衰後の光強度を受取り,受け取った光強度を記憶し, 前記光スイッチ(3)を調整し,導波路を第2の導波路(6)となるようにし, 前記光強度測定器(7)が測定する光強度が,記憶された前記第1回目の光減衰後の光強度となるように,前記光強度変調器(2)に印加する信号を制御するための制御装置(8)であり, さらに,前記制御装置(8)は, 前記光スイッチ(3)を調整して,導波路を第1の導波路(4)となるようにし,前記光減衰器(5)に,前記第1回目の光減衰の所定量とは異なる所定量の光減衰を行わせ, 前記光強度測定器(7)が測定した前記第1回目の光減衰とは異なる光減衰後の光強度を受取り,受け取った光強度を記憶し, 前記光スイッチ(3)を調整し,導波路を第2の導波路(6)となるようにし, 前記光強度測定器(7)が測定する光強度が,記憶された前記第1回目の光減衰とは異なる光減衰後の光強度となるように,前記光強度変調器(2)に印加する信号を制御するサイクルを,1または複数回行うための制御装置(8)である 光強度測定器のキャリブレーション装置(1)。
IPC (2件):
G01J 1/00 ( 200 6.01) ,  G02F 1/01 ( 200 6.01)
FI (2件):
G01J 1/00 B ,  G02F 1/01 C
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 光変調装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願平8-270459   出願人:アンリツ株式会社
  • 特開昭61-219021

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