特許
J-GLOBAL ID：201303036987363960
MALDI用試料作成装置および試料作成方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鹿島 義雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-159296
公開番号（公開出願番号）：特開2013-137294
出願日： 2012年07月18日
公開日（公表日）： 2013年07月11日
要約：
【課題】 MALDI用マトリクス膜の真空蒸着による形成に適した試料作成装置を提供する。【解決手段】 試料基板Sに対し、真空蒸着によりマトリクス膜を形成して、マトリクス支援レーザ脱離イオン化法を用いた分析のための分析試料を作成する試料作成装置M1であって、真空容器12内でマトリクス物質Jを加熱し蒸着させる蒸着源21と、試料基板S上の分析対象物質が蒸着源21に対向するように試料基板Sを支持する試料基板支持部23と、真空容器12内に配設され、試料基板Sに蒸着されたマトリクス膜に対し測定光を照射する光源24、および、試料基板Sに蒸着されたマトリクス膜を透過または反射した測定光の光量を検出する光検出器25からなる光量測定部と、蒸着源21から飛び出したマトリクス物質Jの光量測定部への付着を防止するための防着手段23aとを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
分析対象物質が貼り付けられた試料基板の少なくとも当該分析対象物質上に対し、真空蒸着によりマトリクス膜を形成して、マトリクス支援レーザ脱離イオン化法を用いた分析のための分析試料を作成する試料作成装置であって、
真空容器内でマトリクス物質を加熱し蒸着させる蒸着源と、
前記試料基板上の分析対象物質が前記蒸着源に対向するように当該試料基板を支持する試料基板支持部と、
前記真空容器内に配設され、前記試料基板に蒸着されたマトリクス膜に対し斜めに測定光を照射する光源、および、前記試料基板に蒸着されたマトリクス膜を斜めに透過または反射した前記測定光の光量を検出する光検出器からなる光量測定部と、
前記蒸着源から飛び出したマトリクス物質の前記光量測定部への付着を防止するための防着手段とを備えたことを特徴とする試料作成装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01N27/64 B
, G01N27/62 V
2G041CA01
, 2G041DA04
, 2G041EA01
, 2G041GA16
, 2G041JA07
, 2G041JA08
, 2G041JA20
