特許
J-GLOBAL ID：201303043350411908
設備状態監視方法およびその装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
ポレール特許業務法人
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-171156
特許番号：特許第5301717号
出願日： 2012年08月01日
要約：
【課題】プラントなどの設備における事例ベースの異常検知において、学習データ全体から新しい観測データに近いデータを探索するデータ検索の時間を短縮して短時間での設備の異常診断を可能にする。
【解決手段】予め学習データをクラスタリングしてクラスタ中心とクラスタに属するデータ106を記憶しておき、新しい観測データに近いクラスタに属する学習データから新しい観測データに近いデータを選択し、この選択したデータ107から正常モデル108を作成し、異常測度109を求めてしきい値110を決め、新しい観測データと正常モデルから異常測度を求め、これをしきい値と比較して設備の異常を検知する。
【選択図】図1
請求項（抜粋）：
【請求項1】 設備または装置の状態を監視する方法であって、
設備または装置に装着された複数のセンサから出力されるセンサ信号から特徴ベクトルを抽出し、
該抽出した特徴ベクトルをクラスタリングし、
該クラスタリングした各クラスタの中心とクラスタに属する特徴ベクトルを学習データとして蓄積し、
前記設備または装置に装着された前記複数のセンサから出力された新たなセンサ信号から特徴ベクトルを抽出し、
該新たなセンサ信号から抽出した特徴ベクトルに応じて前記学習データとして蓄積しておいたクラスタの中から1個または数個のクラスタを選択し、
前記学習データとして蓄積しておいたクラスタの中から選択した前記クラスタに属する特徴ベクトルの中から前記新たなセンサ信号から抽出した特徴ベクトルに応じて所定数の特徴ベクトルを選択し、
該選択した所定数の特徴ベクトルを用いて正常モデルを作成し、
前記新たに観測された特徴ベクトルと前記作成した正常モデルに基づき異常測度を算出し、
該算出した異常測度に基づき前記設備または装置の状態が異常か正常かを判定することを特徴とする設備状態監視方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
引用文献：
前のページに戻る
