特許
J-GLOBAL ID：201303044102169480
イオン分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
西村 竜平
, 佐藤 明子
, 齊藤 真大
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-287806
公開番号（公開出願番号）：特開2013-137218
出願日： 2011年12月28日
公開日（公表日）： 2013年07月11日
要約：
【課題】精度の高い分析が可能であるとともに、メンテナンスが容易なマルチセンサタイプのイオン分析装置を提供する。【解決手段】異なるイオンを選択的に捕捉する複数種類のイオノフォアがそれぞれ基材に担持されてなる複数種類のイオン感応膜15、16を備えた液膜型イオン選択性電極71、72と、内部液14cと、前記内部液14cが浸み出してくる液絡部17と、を有し、前記複数種類のイオン感応膜15、16と前記液絡部17とが同一支持体上に設けられており、前記複数種類のイオン感応膜15、16のうち少なくとも一つのイオン感応膜16が、前記液絡部から浸み出した前記内部液14cに浸漬する領域の外側に配置されているようにした。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
異なるイオンを選択的に捕捉する複数種類のイオノフォアがそれぞれ基材に担持されてなる複数種類のイオン感応膜を備えた液膜型イオン選択性電極と、内部液と、前記内部液が浸み出してくる液絡部と、を有し、
前記複数種類のイオン感応膜と前記液絡部とが同一支持体上に設けられており、
前記複数種類のイオン感応膜のうち少なくとも一つのイオン感応膜が、前記液絡部から浸み出した前記内部液に浸漬する領域の外側に配置されていることを特徴とするイオン分析装置。
IPC (2件)：
G01N 27/333
, G01N 27/416
G01N27/30 331E
, G01N27/30 331K
, G01N27/46 351B
