光波距離測定方法及び光波距離装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：三好祥二
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-145605
公開番号（公開出願番号）：特開2013-011558
出願日： 2011年06月30日
公開日（公表日）： 2013年01月17日
要約：

【課題】パルス光を利用した光波距離測定に於いて簡単で而も高精度の測距が行える光波距離測定方法及び光波距離装置を提供する。【解決手段】測距光路と、内部参照光路と、パルス光を発するパルス発光光源と、パルス光を測距パルス光と内部参照パルス光とし、測距パルス光及び前記内部参照パルス光を受光して受光信号を発する受光検出器6と、該受光検出器からの受光信号に基づき測定対象物迄の距離を演算する計測部4とを具備し、該計測部は、内部参照パルス光と測定対象物で反射された測距パルス光との受光時間差に基づき粗測距を行い、前記受光検出器が出力する内部参照パルス光の受光波形、測距パルス光の受光波形をそれぞれフーリエ変換し、複数の周波数成分に分解し、得られた周波数成分毎に位相差を求め、位相差から得られる時間差に基づき精密測距を行い、粗測距と精密測距とを加算して測定対象物迄の距離を測定する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

内部参照パルス光と測定対象物で反射された測距パルス光との受光時間差に基づき粗測距を行い、前記内部参照パルス光の受光波形、前記測距パルス光の受光波形をそれぞれフーリエ変換し、複数の周波数成分に分解し、得られた周波数成分毎に位相差を求め、位相差から得られる時間差に基づき精密測距を行い、粗測距と精密測距とを加算して測定対象物迄の距離を測定することを特徴とする光波距離測定方法。

IPC (2件)：

G01S 17/10 , G01C 3/06

FI (2件)：

G01S17/10 , G01C3/06 120Q

Fターム (35件)：

2F112AD01 , 2F112BA06 , 2F112CA12 , 2F112DA04 , 2F112DA25 , 2F112EA05 , 2F112FA03 , 2F112FA07 , 2F112FA14 , 2F112FA21 , 2F112FA25 , 2F112FA50 , 5J084AA04 , 5J084AA05 , 5J084AD01 , 5J084AD02 , 5J084BA51 , 5J084BB01 , 5J084BB24 , 5J084BB40 , 5J084CA03 , 5J084CA22 , 5J084CA33 , 5J084CA48 , 5J084CA49 , 5J084CA52 , 5J084CA53 , 5J084CA70 , 5J084DA01 , 5J084DA07 , 5J084DA08 , 5J084DA09 , 5J084EA08 , 5J084EA12 , 5J084FA01

引用特許：

出願人引用 (9件)

光波距離計
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-327524 出願人：株式会社トプコン
光波距離計
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-338049 出願人：株式会社トプコン
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-253833 出願人：北陽電機株式会社

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審査官引用 (11件)

光波距離計
公報種別：公開公報出願番号：特願平11-327524 出願人：株式会社トプコン
光波距離計
公報種別：公開公報出願番号：特願平6-338049 出願人：株式会社トプコン
測距装置
公報種別：公開公報出願番号：特願2006-253833 出願人：北陽電機株式会社

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