特許
J-GLOBAL ID：201303045205938305
変動面の変位計測方法及びシステム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
市東 篤
, 市東 禮次郎
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-113073
公開番号（公開出願番号）：特開2013-238549
出願日： 2012年05月17日
公開日（公表日）： 2013年11月28日
要約：
【課題】変動面上の離散的・散在的な計測点群の三次元座標値から変動面上の特定位置の変位を計測する。 【解決手段】凹凸のある変動面1(例えば水底面1)上に散在する計測点群の三次元座標値(X,Y,Z)のZ座標値を凹凸値とみなしてXY平面に配列した二次元画像Iを作成し,特定時刻Toの二次元画像Ioから抽出した測定点Poの周囲の凹凸パターンMを所定時間後Tjの二次元画像Ij上で検索して凹凸パターンMが最も類似する相似点Pjを検出し,相似点Pj及び測定点Poの対応する計測点の対応三次元座標値又は凹凸値をZ座標値に戻した対応三次元座標値の差分(ΔX,ΔY,ΔZ)を求める。二次元画像Iの一例は,各計測点のZ座標値を輝度値に置換してXY平面に配列した二次元輝度画像であり,その場合は凹凸パターンを輝度パターンとする。【選択図】 図2
請求項（抜粋）：
凹凸のある変動面上に散在する計測点群の三次元座標値(X,Y,Z)のZ座標値を凹凸値とみなしてXY平面に配列した二次元画像を作成し,特定時刻の前記画像から抽出した測定点の周囲の凹凸パターンを所定時間後の前記画像上で検索して凹凸パターンが最も類似する相似点を検出し,前記相似点及び測定点に対応する計測点の対応三次元座標値の差分を求めてなる変動面の変位計測方法。
IPC (3件)：
G01C 7/02
, E21D 9/06
, G01B 21/32
G01C7/02
, E21D9/06 301F
, G01B21/32
2D054GA15
, 2D054GA17
, 2D054GA25
, 2D054GA65
, 2D054GA82
, 2F069AA04
, 2F069AA06
, 2F069AA66
, 2F069AA68
, 2F069BB40
, 2F069DD20
, 2F069EE20
, 2F069GG04
, 2F069GG07
, 2F069GG08
, 2F069GG09
, 2F069GG31
, 2F069GG56
, 2F069GG59
, 2F069GG62
, 2F069GG67
, 2F069HH09
, 2F069HH11
, 2F069JJ13
, 2F069JJ14
, 2F069KK05
, 2F069NN08
, 2F069NN13
, 2F069NN16
, 2F069NN20
, 2F069NN25
