特許
J-GLOBAL ID:201303050537737226

吸収分光分析セル、吸収分光分析装置、および吸収分光分析方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (2件): 中島 淳 ,  加藤 和詳
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-054878
公開番号(公開出願番号):特開2013-190227
出願日: 2012年03月12日
公開日(公表日): 2013年09月26日
要約:
【課題】本発明は、気体を固体試料に接触させた場合における固体試料上での反応を直接観察できる吸収分光分析装置用のセルである吸収分光分析セル、前記吸収分光分析セルを有する吸収分光分析装置、および吸収分光分析方法の提供を目的とする。【解決手段】赤外光IRに対して透明であって一の面に排ガス浄化触媒が付着される基板14と、基板14における排ガス浄化触媒が付着される固体試料付着面14Aに沿って形成され、反応ガスが流通される反応ガス流路18と、基板14における固体試料付着面14A以外の面であって、赤外光IRが固体試料付着面14Aに向かって入射される赤外光入射面14Bと、固体試料付着面14A以外の面であって、固体試料付着面14Aから戻ってきた赤外光IRが出射される赤外光出射面14Cと、を備える吸収分光分析セル12、および吸収分光分析セル12を備える吸収分光分析装置である。【選択図】図1
請求項(抜粋):
測定光に対して透明であって一の面に固体試料が付着される固体試料付着面を有する基板と、 前記基板における前記固体試料付着面に沿って形成され、前記固体試料と反応させるべき気体である反応ガスが流通される反応ガス流路と、 前記基板における前記固体試料付着面以外の面であって、前記測定光が前記固体試料付着面に対して斜めに入射される測定光入射面と、 前記基板における前記固体試料付着面以外の面であって、前記基板における前記固体試料付着面から戻ってきた測定光が出射される測定光出射面と、 を備える吸収分光分析セル。
IPC (2件):
G01N 21/27 ,  G01N 21/03
FI (3件):
G01N21/27 B ,  G01N21/27 Z ,  G01N21/03 B
Fターム (31件):
2G057AA01 ,  2G057AA14 ,  2G057AB02 ,  2G057AC03 ,  2G057AC06 ,  2G057AD01 ,  2G057BA05 ,  2G057BB10 ,  2G057CB01 ,  2G057DA03 ,  2G057DA05 ,  2G057DB05 ,  2G057EA06 ,  2G057EA07 ,  2G057GA06 ,  2G059AA01 ,  2G059BB01 ,  2G059BB09 ,  2G059CC04 ,  2G059CC05 ,  2G059DD12 ,  2G059DD16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE06 ,  2G059EE12 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ01 ,  2G059JJ12 ,  2G059JJ14 ,  2G059JJ17 ,  2G059KK03
引用特許:
出願人引用 (1件)
  • 分析装置
    公報種別:公開公報   出願番号:特願2001-267715   出願人:トヨタ自動車株式会社

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