特許
J-GLOBAL ID:201303064829108115
保護膜の性能評価方法および保護膜の性能評価装置
発明者:
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出願人/特許権者:
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代理人 (1件):
特許業務法人樹之下知的財産事務所
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2011-209547
公開番号(公開出願番号):特開2013-072647
出願日: 2011年09月26日
公開日(公表日): 2013年04月22日
要約:
【課題】金属材料をはじめ種々の導電性材料に形成させて用いられる保護膜について、定量的に精度よく保護性能を評価する方法および評価装置を提供する。【解決手段】導電性材料の表面に保護膜を形成し、導電性液体中で前記導電性材料の自然浸漬電位の経時変化を測定する。この方法によれば、形成された保護膜が前記導電性液体と前記導電性材料を絶縁している期間(時間)を測定することで、定量的に精度よく保護性能を評価できる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
導電性材料の表面に形成された保護膜の性能を評価する方法であって、
導電性液体中で前記導電性材料の自然浸漬電位の経時変化を測定する
ことを特徴とする保護膜の性能評価方法。
IPC (3件):
G01N 17/02
, G01N 27/416
, G01N 27/26
FI (3件):
G01N17/02
, G01N27/46 341M
, G01N27/26 351H
Fターム (9件):
2G050AA01
, 2G050AA04
, 2G050BA02
, 2G050CA04
, 2G050CA10
, 2G050EA06
, 2G050EB03
, 2G050EC01
, 2G050EC05
引用特許: