特許
J-GLOBAL ID:201303065932497843

切欠き係数の決定方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 絹谷 信雄
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-075949
公開番号(公開出願番号):特開2013-205299
出願日: 2012年03月29日
公開日(公表日): 2013年10月07日
要約:
【課題】簡便かつ低コストに切欠き係数を求めることが可能な切欠き係数の決定方法を提供する。【解決手段】切欠き先端半径の異なる切欠きを形成した2つの試験片を用いて疲労試験を行い、両試験片で同じ疲労寿命となるときの切欠きの深さ方向の応力分布をそれぞれ求め、求めた2つの応力分布における応力の切欠き先端からの積分値が等しくなる切欠き先端からの距離である特性距離を求め、求めた特性距離に基づき試験片での破壊プロセスゾーンを設定し、評価対象の切欠き形状での切欠き先端から特性距離までの平均応力である特性距離平均応力を求め、式(1)により、切欠き係数Kfを演算する。【選択図】なし
請求項(抜粋):
切欠き先端半径の異なる切欠きを形成した2つの試験片を用いて疲労試験を行い、両試験片で同じ疲労寿命となるときの切欠きの深さ方向の応力分布をそれぞれ求める応力分布演算工程と、 該応力分布演算工程で求めた2つの応力分布を用い、両応力分布における応力の切欠き先端からの積分値が等しくなる切欠き先端からの距離である特性距離を求める特性距離演算工程と、 該特性距離演算工程で求めた特性距離に基づき、前記試験片での破壊プロセスゾーンを設定する破壊プロセスゾーン設定工程と、 前記特性距離演算工程で求めた特性距離に基づき、評価対象の切欠き形状での切欠き先端から特性距離までの平均応力である特性距離平均応力を求め、[数1]に示す式(1)
IPC (1件):
G01N 3/32
FI (1件):
G01N3/32 K
Fターム (4件):
2G061AA01 ,  2G061AB05 ,  2G061BA15 ,  2G061CB07
引用特許:
出願人引用 (2件)

前のページに戻る