特許
J-GLOBAL ID：201003068520444866

微小切欠材の寿命評価方法

発明者：
山下 洋一

山下 洋一 について


出願人/特許権者：
株式会社IHI

株式会社IHI について


代理人 (1件)： 絹谷 信雄
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2009-020685
公開番号（公開出願番号）：特開2010-175479
出願日： 2009年01月30日
公開日（公表日）： 2010年08月12日
要約：
【課題】微小な切欠きを有する微小切欠材の疲労寿命を精度よく予測可能な微小切欠材の寿命評価方法を提供する。【解決手段】切欠き深さ、切欠き先端半径の異なる複数の試料を用いて疲労試験を行い、各試料のSN線図をそれぞれ作成し、他方、疲労試験で付与した公称応力に対して各試料の切欠き断面での応力分布σyを推定すると共に、特性距離x0を各試料ごとに求め、これらに基づき、切欠き底から特性距離x0までの平均応力である特性距離平均応力σaveをそれぞれ求め、求めた特性距離平均応力σaveと上記SN線図とから、特性距離平均応力σaveに対する疲労き裂発生寿命の関係を求めておき、この関係を用い、疲労寿命を予測する微小切欠材の特性距離平均応力σaveを求めることで、上記微小切欠材の疲労寿命を予測する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
微小な切欠きを有する微小切欠材の疲労寿命を予測する方法であって、 切欠き深さ、切欠き先端半径の異なる複数の試料を用いて疲労試験を行い、各試料のSN線図をそれぞれ作成し、他方、上記疲労試験で付与した公称応力に対して各試料の切欠き断面での応力分布σyを推定すると共に、数1に示す式(1)
IPC (2件)：
G01N 3/34 ,  G01N 3/32
FI (2件)：
G01N3/34 A ,  G01N3/32 E
Fターム (8件)：
2G061AA01 ,  2G061AA02 ,  2G061AA15 ,  2G061AB05 ,  2G061BA04 ,  2G061CA01 ,  2G061DA11 ,  2G061EC02
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (7件)
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引用文献：
出願人引用 (2件) 審査官引用 (2件)

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