特許

J-GLOBAL ID：201303069458343746

試験装置および試験モジュール

発明者： 杉村 一 ,  矢口 剛史 ,  中島 隆博
出願人/特許権者： 株式会社アドバンテスト
代理人 (1件)： 龍華国際特許業務法人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-045891
公開番号（公開出願番号）：特開2013-181836
出願日： 2012年03月01日
公開日（公表日）： 2013年09月12日
要約：

【課題】テストの開始順序に応じて、所定の処理を実行する。【解決手段】被試験デバイスを試験する試験装置であって、被試験デバイスと通信して被試験デバイスを試験する試験モジュールと、複数の試験プログラムを実行し、それぞれの試験プログラムに応じた試験を試験モジュールに実行させ、試験モジュールから試験結果を受け取り、試験結果に対して予め定められた結果処理を行う制御装置とを備え、制御装置は、複数の試験プログラムの実行順序を記録し、結果処理のうちの少なくとも一部を、記録した実行順序に応じた順番で実行する試験装置を提供する。【選択図】図4

請求項（抜粋）：

被試験デバイスを試験する試験装置であって、 前記被試験デバイスと通信して前記被試験デバイスを試験する試験モジュールと、 複数の試験プログラムを実行し、それぞれの試験プログラムに応じた試験を前記試験モジュールに実行させ、前記試験モジュールから試験結果を受け取り、前記試験結果に対して予め定められた結果処理を行う制御装置と を備え、 前記制御装置は、前記複数の試験プログラムの実行順序を記録し、前記結果処理のうちの少なくとも一部を、記録した前記実行順序に応じた順番で実行する試験装置。

IPC (1件)：

G01R 31/28

FI (2件)：

G01R31/28 Y ,  G01R31/28 H

Fターム (4件)：

2G132AA00 ,  2G132AB01 ,  2G132AE22 ,  2G132AL25

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 試験装置、試験方法、及び試験制御プログラム
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-084576   出願人：株式会社アドバンテスト
• メモリ試験装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-352553   出願人：横河電機株式会社