特許
J-GLOBAL ID：201303079164454243
円筒体又は円柱体材料の表面欠陥検査方法及び装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
高矢 諭
, 松山 圭佑
, 牧野 剛博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-061184
公開番号（公開出願番号）：特開2013-195169
出願日： 2012年03月16日
公開日（公表日）： 2013年09月30日
要約：
【課題】専用の検査ラインや専用の回転機構を追加して設けることなく、安価な設備投資で円筒体又は円柱体材料の全長全周に亘る表面欠陥検査を実現する。【解決手段】円筒体又は円柱体でなる材料(鋼管12)の表面をカメラ14で撮影し、該カメラ14で撮影された画像の輝度に基づいて該材料(12)の表面欠陥を検出する円筒体又は円柱体材料の表面欠陥検査方法において、前記材料(12)を、その軸方向と垂直な方向に転動させて搬送するとともに、前記カメラ14の該搬送方向の視野を少なくとも前記材料(12)の外周長S以上に設定し、かつ、該カメラ14の撮影時間間隔を、前記材料(12)の該カメラ撮影位置近傍における搬送速度をVとするとき、S/Vの1/n以下(nは3以上の整数)とする。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
円筒体又は円柱体でなる材料の表面をカメラで撮影し、該カメラで撮影された画像の輝度に基づいて該材料の表面欠陥を検出する円筒体又は円柱体材料の表面欠陥検査方法において、
前記材料を、その軸方向と垂直な方向に転動させて搬送するとともに、
前記カメラの該搬送方向の視野を少なくとも前記材料の外周長S以上に設定し、かつ、該カメラの撮影時間間隔を、前記材料の該カメラ撮影位置近傍における搬送速度をVとするとき、S/Vの1/n以下(nは3以上の整数)としたことを特徴とする、円筒体又は円柱体材料の表面欠陥検査方法。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (19件)：
2G051AA01
, 2G051AA90
, 2G051AB01
, 2G051AB03
, 2G051CA04
, 2G051CA07
, 2G051CB01
, 2G051CD01
, 2G051CD07
, 2G051DA06
, 2G051DA08
, 2G051EA11
, 2G051EA12
, 2G051EA16
, 2G051EA20
, 2G051ED01
, 2G051ED02
, 2G051ED04
, 2G051FA03
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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