特許
J-GLOBAL ID：201303085606376310

銅合金管

発明者：
細木 哲郎

細木 哲郎 について


出願人/特許権者：
株式会社コベルコ マテリアル銅管

株式会社コベルコ マテリアル銅管 について


代理人 (1件)： 藤巻 正憲
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-021330
公開番号（公開出願番号）：特開2013-159803
出願日： 2012年02月02日
公開日（公表日）： 2013年08月19日
要約：
【課題】スケールの付着が抑制され、伝熱性能が優れた銅合金管を提供する。【解決手段】銅合金管は、Sn:0.05〜3.0質量%、P:0.004〜0.2質量%、Zr(母相中に固溶体、単体及び/又は化合物として含有):0.005〜0.2質量%(化合物の場合はZr換算値)を含有し、残部がCu及び不可避的不純物からなる組成を有する。グロー放電発光表面分析による前記銅合金管の最表面から深さ250nmまでのP、Sn,Zrの質量割合の最大値と深さ1900〜2000nmの平均濃度との差が、Pの場合は0.50質量%以上、25質量%以下、Snの場合は0.30質量%以上、15質量%以下、Zrの場合は0.010質量%以上、3.0質量%以下である。平均結晶粒径が5〜25μmであり、引張強度σが260〜450MPaである。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
Sn:0.05〜3.0質量%、 P:0.004〜0.2質量%、 Zr(母相中に固溶体、単体及び/又は化合物として含有):0.005〜0.2質量%(化合物の場合はZr換算値) を含有し、 残部がCu及び不可避的不純物からなる組成を有する銅合金管であって、 グロー放電発光表面分析による前記銅合金管の最表面から深さ250nmまでのPの質量割合の最大値Ppeakと深さ1900〜2000nmのPの平均濃度P2000との差Ppeak-P2000が0.50質量%以上、25質量%以下であり、 前記グロー放電発光表面分析による前記銅合金管の最表面から深さ250nmまでのSnの質量割合の最大値Snpeakと深さ1900〜2000nmにおけるSnの平均濃度Sn2000との差Snpeak-Sn2000が0.30質量%以上、15質量%以下であり、 前記グロー放電発光表面分析による前記銅合金管の最表面から深さ250nmまでのZrの質量割合の最大値Zrpeakと深さ1900〜2000nmにおけるZrの平均濃度Zr2000との差Zrpeak-Zr2000が0.010質量%以上、3.0質量%以下であり、 平均結晶粒径が5〜25μmであり、 引張強度σが260〜450MPa であることを特徴とする銅合金管。
IPC (6件)：
C22C 9/02 ,  C22C 9/04 ,  C22C 9/01 ,  C22C 9/00 ,  F28F 1/40 ,  F28F 21/08
FI (6件)：
C22C9/02 ,  C22C9/04 ,  C22C9/01 ,  C22C9/00 ,  F28F1/40 D ,  F28F21/08 E
引用特許：
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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