特許
J-GLOBAL ID：201303086467673726

導通検査装置および導通検査方法

発明者：
高 野 祥 司

高 野 祥 司 について

, 
松 田 文 彦

松 田 文 彦 について


出願人/特許権者：
日本メクトロン株式会社

日本メクトロン株式会社 について


代理人 (6件)： 勝沼 宏仁 ,  佐藤 泰和 ,  川崎 康 ,  関根 毅 ,  赤岡 明 ,  吉田 昌司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2011-196198
公開番号（公開出願番号）：特開2013-057597
出願日： 2011年09月08日
公開日（公表日）： 2013年03月28日
要約：
【課題】多重配線パターンに断線が発生していることを確実かつ安価に検出することが可能な導通検査装置および導通検査方法を提供することを目的とする。【解決手段】第1の端子と第2の端子を有し、かつ第1および第2の端子を電気的に接続する複数の配線を有する多重配線パターンの導通検査を行う導通検査装置100であって、第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値を測定するインダクタンス測定部110と、インダクタンス値と所定の導通判定用閾値とを比較し、その結果、インダクタンス値が導通判定用閾値よりも大きければ多重配線パターンに断線が発生していると判定し、そうでなければ断線が発生していないと判定する導通判定部120と、導通判定用閾値を記憶する記憶部130と、導通判定部120による判定結果を表示する表示部140と、を備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
第1の端子と第2の端子を有し、かつ前記第1および第2の端子を電気的に接続する複数の配線を有する多重配線パターンの導通検査を行う導通検査装置であって、 前記第1の端子と前記第2の端子間のインダクタンス値を測定する、インダクタンス測定部と、 前記インダクタンス値と導通判定用閾値とを比較し、前記インダクタンス値が前記導通判定用閾値よりも大きければ前記多重配線パターンに断線が発生していると判定し、そうでなければ断線が発生していないと判定する、導通判定部と、 を備えることを特徴とする導通検査装置。
IPC (2件)：
G01R 31/02 ,  H05K 3/00
FI (2件)：
G01R31/02 ,  H05K3/00 T
Fターム (3件)：
2G014AA02 ,  2G014AB59 ,  2G014AC09
引用特許：
審査官引用 (4件)
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