特許
J-GLOBAL ID:201303089593368164

半導体装置および半導体装置の製造方法

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (4件): 大岩 増雄 ,  竹中 岑生 ,  村上 啓吾 ,  吉澤 憲治
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-117153
公開番号(公開出願番号):特開2013-243323
出願日: 2012年05月23日
公開日(公表日): 2013年12月05日
要約:
【課題】高放熱化を実現するのに加えて、安価で信頼性が高く、生産性の良い半導体装置および半導体装置の製造方法を提供する。【解決手段】冷媒が循環する第1の冷却器8と、第1の冷却器8と間隔を隔てて対向配置された放熱板2と、放熱板2に接合されている半導体素子1と、放熱板2と半導体素子1を囲繞し、第1の冷却器8に当接する熱可塑性のモールド樹脂6と、冷媒が循環し、モールド樹脂6に当接する第2の冷却器8とを備えている半導体装置10。放熱板2は、クラッド材から構成することができる。【選択図】図1
請求項(抜粋):
冷媒が循環する第1の冷却器と、 前記第1の冷却器と間隔を隔てて対向配置された放熱板と、 前記放熱板に接合されている半導体素子と、 前記放熱板と前記半導体素子を囲繞し、前記第1の冷却器に当接する熱可塑性のモールド樹脂と、 冷媒が循環し、前記モールド樹脂に当接する第2の冷却器とを備えている半導体装置。
IPC (1件):
H01L 23/473
FI (1件):
H01L23/46 Z
Fターム (7件):
5F136BA00 ,  5F136BB18 ,  5F136CB06 ,  5F136DA05 ,  5F136DA27 ,  5F136EA70 ,  5F136GA35
引用特許:
出願人引用 (10件)
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審査官引用 (10件)
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