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J-GLOBAL ID：201402205306703270   整理番号：14A1497077

表面および薄膜のX線光子相関分光研究

X-ray Photon Correlation Spectroscopy Studies of Surfaces and Thin Films

著者 (3件)： SINHA Sunil K. (Dept. of Physics, Univ. of California San Diego, 9500 Gilman Drive, La Jolla, CA, 92093-0319, USA) ,  JIANG Zhang ,  LURIO Laurence B.
資料名： Advanced Materials  (Advanced Materials)
巻： 26  号： 46  ページ： 7764-7785  発行年： 2014年12月 
JST資料番号： W0001A  ISSN： 0935-9648  CODEN： ADVMEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 文献レビュー  発行国： ドイツ (DEU)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： マイクロ秒から数千秒の範囲の時間スケールの比較的遅い動力学をミクロンからナノメートルの範囲の長さスケールで調べるための方法としてのX線光子相関分光法(XPCS)技法を概説した。表面,界面および薄膜の動的揺らぎを調べるこの技法の利用に焦点を当てた。まず,部分コヒーレンスの影響(あるいは有限な装置分解能)および実験におけるSN比の最適化などの装置関連問題を考察した。次に,液体表面および高分子膜,高分子膜の内部動力学を調べるプローブとして用いたナノ粒子,液晶および多重ラメラ界面活性剤膜,金属表面の毛管波揺らぎ,ならびに反強磁性体中の磁区壁揺らぎについての最近のXPCS研究から判明したことを概説した。次に,2回相関関数によって記述される非平衡動力学の研究について考察した。最後に,現在開発中の新しいシンクロトロン線源における可能な将来のXPCS実験についてフェムト秒までの時間スケールでの動力学研究を含めて簡単に推測した。Copyright 2014 Wiley Publishing Japan K.K. All Rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *X線分光法 ,  *光子相関分光法 ,  ゆらぎ ,  *表面 ,  界面 ,  *薄膜 ,  反強磁性体 ,  磁壁
準シソーラス用語： X線光子相関分光法 ,  磁区壁

分類 (2件)： X線技術  (BA02060D) ,  固-気界面一般  (CB12041H)

タイトルに関連する用語 (4件)： 薄膜 ,  X線 ,  光子相関分光 ,  研究