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J-GLOBAL ID:201402209869361346   整理番号:14A0551163

RAF品質の150mm 4H-SiCウエハの開発

Development of RAF Quality 150mm 4H-SiC Wafer
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巻: 778/780  号: Pt.1  ページ: 17-21  発行年: 2014年 
JST資料番号: D0716B  ISSN: 0255-5476  資料種別: 逐次刊行物 (A)
発行国: スイス (CHE)  言語: 英語 (EN)
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