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J-GLOBAL ID：201402210420452434   整理番号：14A1102157

半導体表面を超高速で流れる電子を可視化=フェムト秒レーザを利用した時間分解光電子顕微鏡の開発=

著者 (3件)： 福本恵紀 (東京工大) ,  恩田健 (東京工大) ,  腰原伸也 (東京工大)
資料名： 光アライアンス  (Optical Alliance)
巻： 25  号： 10  ページ： 41-44  発行年： 2014年10月01日 
JST資料番号： L1746A  ISSN： 0917-026X  CODEN： HARAEW  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 解説  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： フェムト秒レーザを利用して高時空間分解能で半導体中の電荷キャリアダイナミクスを観測できる時間分解光電子顕微鏡を開発した。半導体表面で約8×10⁴m/sで電場勾配に沿って動く電子を可視化した。(著者抄録)

シソーラス用語： *パルスレーザ ,  *放出形顕微鏡 ,  時間分解能 ,  キャリア ,  *電子移動 ,  表面 ,  可視化 ,  *フェムト秒レーザ ,  *光電子顕微鏡 ,  電荷キャリア ,  半導体表面

分類 (2件)： 電子顕微鏡,イオン顕微鏡  (BD02050B) ,  レーザの応用  (BD04100V)

タイトルに関連する用語 (8件)： 半導体表面 ,  超高速 ,  電子 ,  可視化 ,  フェムト秒レーザ ,  分解 ,  光電子顕微鏡 ,  開発