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J-GLOBAL ID:201402224523001440   整理番号:14A0165430

赤外外部反射スペクトロスコピーによるSi(100)表面におけるオクタデシルシランの自己組織化単層膜の表面被覆率分析

Analysis of the Surface Coverage of a Self-Assembled Monolayer of Octadecyl Silane on a Si(100) Surface by Infrared External-Reflection Spectroscopy
著者 (4件):
資料名:
巻: 29  号: 10  ページ: 979-984 (J-STAGE)  発行年: 2013年 
JST資料番号: G0673B  ISSN: 0910-6340  CODEN: ANSCEN  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 原著論文  発行国: 日本 (JPN)  言語: 英語 (EN)
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赤外外部反射分光分析による分子配向からケイ素表面におけるオクタデシルシラン自己組織化単層膜(SAM)被覆率を分析した。市販オクタデシルトリメトキシシラン(ODS)溶液を用いたところ,大気条件でのUV/オゾン処理によって調製したSi(100)酸化表面と容易に反応し,再現性よくSAMが生成することが分かった。この技法によるSAMは全面積に穴のない平坦表面となり,IR外部反射スペクトルはall-transジグザグ立体配座の高配向性アルキル鎖を示し,分子配向はオクタデカン酸のLangmuir-Blodgett(LB)単層膜に一致した。配向分析はLB膜としてのSAMによる完全被覆表面を仮定したので,配向の一致からSi(100)におけるSAMの表面被覆率がLB膜と同一レベルにあることを確認することができた。(翻訳著者抄録)
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分類 (3件):
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分光分析  ,  分子構造と性質の実験的研究  ,  有機けい素化合物 
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