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J-GLOBAL ID:201402234916827590   整理番号:14A0468798

三次元実装デバイス(MID)の最新動向 レーザによる成形品部分めっき工法の特長と適用事例〈SKW-MIDレーザプロセス〉

著者 (3件):
資料名:
巻: 65  号:ページ: 67-70  発行年: 2014年04月10日 
JST資料番号: F0254A  ISSN: 0555-7887  CODEN: PRSKAW  資料種別: 逐次刊行物 (A)
記事区分: 解説  発行国: 日本 (JPN)  言語: 日本語 (JA)
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MIDの製法にはOne-Shot法とTwo-Shot法があり,本報ではOne-Shot法のSKW-L1およびSKW-L2プロセスの概要と応用製品例を紹介した。SKW-L1工法は成形部品全面を銅めっき後,不要部分をレーザビームで除去するため,面積の大きい部品や入り組んだ内部構造の部品製造に向いている。SKW-L2工法は成形体表面をレーザビーム照射で粗化あるいは改質し,その箇所のみを無電解めっきして電気回路を形成する方法で,めっき部分の少ない部品あるいは微細部品のMIDに適している。適用可能な樹脂は両法ともかなり広く,LCP,PPA,PEEK,COC,PA9Tなどがある。応用例としてはSKW-L1ではLED/PKG基板がありMID基板の1辺の長さは50nm,LEDセンサ,PKGがそれぞれ配置されていて,ワイヤボンディングに対応している。SKW-2Lの例としてはPC/ABS製アンテナがある。曲面を有する形状でもダイナミックフォーカスレンズの採用により,レーザビームでの高精度なパターニングが可能となった。
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分類 (1件):
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固体デバイス製造技術一般 

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