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J-GLOBAL ID：201402236930195800   整理番号：14A0640535

トンネル型磁気抵抗素子を用いた裏面欠陥非破壊検査

著者 (6件)： 塚本有哉 (岡山大) ,  志賀啓秀 (岡山大) ,  堺健司 (岡山大) ,  紀和利彦 (岡山大) ,  西川卓男 (コニカミノルタ) ,  塚田啓二 (岡山大)
資料名： 電磁力関連のダイナミクスシンポジウム講演論文集  (電磁力関連のダイナミックスシンポジウム講演論文集)
巻： 26th  ページ： 418-419  発行年： 2014年05月20日 
JST資料番号： L1079A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *金属製品 ,  *裏面 ,  *欠陥検査 ,  *非破壊検査 ,  *磁気抵抗素子 ,  画像処理

分類 (2件)： 非破壊試験  (HB02030F) ,  磁電デバイス  (NC03100X)

タイトルに関連する用語 (5件)： トンネル ,  磁気抵抗素子 ,  裏 ,  面欠陥 ,  非破壊検査