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J-GLOBAL ID：201402239799926010   整理番号：14A1484323

CdZnTe検出器性能を改善するためのTe介在物を制御するための冷却プロセス最適化

Cooling process optimization to control Te inclusions for improving CdZnTe detector performance

著者 (7件)： LIANG Xiao-yan ,  MIN Jia-hua ,  YANG Sheng ,  ZHANG Ji-jun ,  WANG Lin-jun ,  ZHAO Yue ,  SHI Wei-min
資料名： Materials Science in Semiconductor Processing  (Materials Science in Semiconductor Processing)
巻： 30  ページ： 14-17  発行年： 2015年02月 
JST資料番号： W1055A  ISSN： 1369-8001  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： イギリス (GBR)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 種々の速度の冷却プロセスによって処理されたCdZnTe結晶中のTe介在物分布の調査から,10-20K/hで徐々に冷却すると濃度が低くなり,Te介在物のサイズが大きくなり,Teの総体積分率が高レベルになり,IR透過率が減少する。速く冷却すると,Te介在物の寸法が小さくなり,濃度が増加した。冷却速度をさらに早くすると,濃度がさらに高くなり,さらに赤外線透過率が改善された。エネルギースペクトルの測定から,低速または早すぎる冷却速度によって誘起される,それぞれ,大型または高濃度のTe含有物は,分光性能を縮退することを実証した。40-50K/hの冷却が最適であり,一定量ではあるが,小型のTe介在物を含み,低総体積分率を保ち,優れたエネルギー分解能を示す。Copyright 2014 Elsevier B.V., Amsterdam. All rights reserved. Translated from English into Japanese by JST.

シソーラス用語： *化合物半導体 ,  *テルル化物 ,  *結晶成長 ,  カドミウム化合物 ,  亜鉛化合物 ,  非金属介在物 ,  冷却 ,  過程 ,  検出器 ,  透過率 ,  エネルギー分布 ,  体積率 ,  縮退
準シソーラス用語： エネルギースペクトル ,  体積分率

分類 (1件)： 半導体の結晶成長  (BK13040X)

タイトルに関連する用語 (5件)： CdZnTe ,  検出器 ,  Te ,  介在物 ,  プロセス最適化