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J-GLOBAL ID：201402248310299409   整理番号：14A0393583

張力で引ったSmBCO被覆導体の局部断面とサンプル全体の臨界電流に対するn値の関係

Relation of n-Value to Critical Current for Local Sections and Overall Sample in a SmBCO Coated Conductor Pulled in Tension

著者 (7件)： OCHIAI Shojiro (Elements Strategy Initiative for Structural Materials, Kyoto Univ.) ,  OKUDA Hiroshi (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Kyoto Univ.) ,  NAGANO Shinji (Dep. of Materials Sci. and Engineering, Kyoto Univ.) ,  SUGANO Michinaka (High Energy Accelerator Res. Organization (KEK), Cryogenics Sci. Center, J-PARC Center) ,  OH Sang-song (Korea Electrotechnology Res. Inst.) ,  HA Hong-soo (Korea Electrotechnology Res. Inst.) ,  OSAMURA Kozo (Res. Inst. for Applied Sciences)
資料名： Materials Transactions  (Materials Transactions)
巻： 55  号： 3  ページ： 549-555 (J-STAGE)  発行年： 2014年 
JST資料番号： G0668A  ISSN： 1345-9678  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： 日本 (JPN)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 局部断面のシリーズ電気回路からなるSmBCO(SmBa₂Cu₃O_7-δ)被覆導体サンプルに対し引張応力を作用させて,電圧-電流曲線,臨界電流およびサンプル全体のこれらに対する断面のn値の関係を調べた。臨界電流とn値における増加する作用応力についての変化は,断面間のSmBCO層の損傷挙動の差異のため断面ごとに異なっていた。断面間の損傷の広がりにおける差異が小さい場合,すべての断面で発達した電圧がサンプル全体の電圧に寄与した。このような場合,サンプル全体の臨界電流とn値は断面間の最高と最低値の間にあった。一方,1つの断面の損傷が他の断面のそれより遥かに厳しい場合,最も厳しく損傷を受けた断面に発達した電圧は全体の電圧に大いに寄与し,したがって最も厳しく損傷を受けた断面の電圧-電流曲線は全体サンプルのこれらとほとんど同じであった。この場合,全体サンプルの臨界電流は僅かにより高く,全体サンプルのn値は最も厳しく損傷を受けた断面の臨界電流およびn値よりより低かった。したがって,サンプル全体の臨界電流の減少につれてのn値の減少は断面のそれよりより鮮明であった。最も厳しく損傷を受けた断面のより高い電圧での亀裂部分のシャント電流の増加によってこの現象を説明した。(翻訳著者抄録)

シソーラス用語： *サマリウム化合物 ,  *バリウム化合物 ,  *銅化合物 ,  酸化物 ,  張力 ,  臨界電流 ,  n値【加工硬化】 ,  導体 ,  超伝導線 ,  引張応力 ,  電流電圧特性 ,  断面 ,  電圧 ,  亀裂 ,  試験片 ,  長さ ,  複合材料 ,  高温超伝導体 ,  銅酸化物超伝導体
準シソーラス用語： 被覆導体

分類 (1件)： 酸化物系超伝導体の物性  (BM04023I)

引用文献 (17件)：

• 1) N. Cheggour, J. W. Ekin, C. H. L. Thieme, Y. Y. Xie, V. Selvamanickam and R. Feenstra: Supercond. Sci. Technol. 18 (2005) s319–s324.
• 2) M. Sugano, K. Osamura, W. Prusseit, R. Semerad, T. Kuroda, K. Itoh and T. Kiyoshi: IEEE Trans. Appl. Supercond. 15 (2005) 3581–3584.
• 3) K. Osamura, M. Sugano, S. Machiya, H. Adachi, S. Ochiai and M. Sato: Supercond. Sci. Technol. 22 (2009) 065001.
• 4) D. C. van der Laan, J. W. Ekin, J. F. Douglas, C. C. Clickner, T. C. Stauffer and L. F. Goodrich: Supercond. Sci. Technol. 23 (2010) 072001.
• 5) S. Ochiai, T. Arai, A. Toda, H. Okuda, M. Sugano, K. Osamura and W. Prusseit: J. Appl. Phys. 108 (2010) 063905.

タイトルに関連する用語 (6件)： 張力 ,  SmBCO ,  被覆導体 ,  サンプル ,  臨界電流 ,  N値