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J-GLOBAL ID：201402267044356412   整理番号：14A0007999

拡張波長In_xGa_1-xAs/InP光検出器における深い準位トラップ誘起暗電流

Deep-level traps induced dark currents in extended wavelength In_xGa_1-xAs/InP photodetector

著者 (10件)： JI Xiaoli (School of Electronics Sci. and Engineering, Nanjing Univ., Nanjing 210093, CHN) ,  LIU Baiqing (School of Electronics Sci. and Engineering, Nanjing Univ., Nanjing 210093, CHN) ,  XU Yue (School of Electronics Sci. and Engineering, Nanjing Univ., Nanjing 210093, CHN) ,  TANG Hengjing (State Key Lab. of Transducer Technol., Shanghai Inst. of Technical Physics, Shanghai 200083, CHN) ,  LI Xue (State Key Lab. of Transducer Technol., Shanghai Inst. of Technical Physics, Shanghai 200083, CHN) ,  GONG Haimei (State Key Lab. of Transducer Technol., Shanghai Inst. of Technical Physics, Shanghai 200083, CHN) ,  SHEN Bo (Physics Dep., Peking Univ., Beijing 100871, CHN) ,  YANG Xuelin (Physics Dep., Peking Univ., Beijing 100871, CHN) ,  HAN Ping (School of Electronics Sci. and Engineering, Nanjing Univ., Nanjing 210093, CHN) ,  YAN Feng (School of Electronics Sci. and Engineering, Nanjing Univ., Nanjing 210093, CHN)
資料名： Journal of Applied Physics  (Journal of Applied Physics)
巻： 114  号： 22  ページ： 224502-224502-5  発行年： 2013年12月14日 
JST資料番号： C0266A  ISSN： 0021-8979  CODEN： JAPIAU  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *光検出器 ,  *ヒ化ガリウムインジウム ,  *リン化インジウム ,  周波数領域 ,  拡大 ,  *暗電流 ,  *深い準位 ,  電荷 ,  深準位過渡分光法 ,  *電流電圧特性 ,  トンネル効果 ,  化合物半導体
準シソーラス用語： トラップ電荷 ,  拡張 ,  波長領域

分類 (1件)： 測光と光検出器一般  (BD07031F)

タイトルに関連する用語 (8件)： 拡張 ,  波長 ,  InP ,  光検出器 ,  深い準位 ,  トラップ ,  誘起 ,  暗電流