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J-GLOBAL ID：201402270030349724   整理番号：14A1101245

SIMS測定下限領域における窒素低減がダイヤモンド中の電荷キャリア輸送特性に与える影響

著者 (10件)： 新名宏章 (北大 大学院) ,  大西将矢 (北大 大学院) ,  坪田雅功 (北大 大学院) ,  金子純一 (北大 大学院) ,  嶋岡毅紘 (北大 大学院) ,  宮崎大二郎 (北大 大学院) ,  茶屋原昭義 (産業技術総合研) ,  梅沢仁 (産業技術総合研) ,  小泉均 (北大 大学院) ,  鹿田真一 (産業技術総合研)
資料名： 応用物理学会秋季学術講演会講演予稿集(CD-ROM)  (Extended Abstracts. JSAP Autumn Meeting (CD-ROM))
巻： 75th  ページ： ROMBUNNO.20P-B2-7  発行年： 2014年09月01日 
JST資料番号： Y0055B  ISSN： 2758-4704  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *放射線検出器 ,  *FET【トランジスタ】 ,  *ダイヤモンド ,  *不純物 ,  *窒素 ,  二次イオン質量分析 ,  *輸送現象 ,  キャリア ,  *単結晶
準シソーラス用語： *電界効果トランジスタ ,  SIMS【質量分析】 ,  *キャリア輸送 ,  電荷キャリア

分類 (2件)： 放射線検出・検出器  (AD08020J) ,  トランジスタ  (NC03070N)

タイトルに関連する用語 (6件)： SIMS ,  下限 ,  窒素 ,  ダイヤモンド ,  電荷キャリア ,  輸送特性