PALMOUR J.W. について
Cree, Inc., NC, USA について
CHENG L. について
Cree, Inc., NC, USA について
PALA V. について
Cree, Inc., NC, USA について
BRUNT E.V. について
Cree, Inc., NC, USA について
LICHTENWALNER D.J. について
Cree, Inc., NC, USA について
WANG G-Y について
Cree, Inc., NC, USA について
RICHMOND J. について
Cree, Inc., NC, USA について
O’LOUGHLIN M. について
Cree, Inc., NC, USA について
Cree, Inc., NC, USA について
ALLEN S.T. について
Cree, Inc., NC, USA について
BURK A.A. について
Cree, Inc., NC, USA について
SCOZZIE C. について
U.S. Army Res. Lab., MD, USA について
Proceedings. International Symposium on Power Semiconductor Devices and ICs について
炭化ケイ素 について
電力トランジスタ について
MOSFET について
絶縁破壊 について
六方晶系 について
オン抵抗 について
最適設計 について
電圧 について
ターンオフ について
HF【周波数】 について
高電圧 について
スイッチング損失 について
MOS構造 について
絶縁破壊電圧 について
DMOSFET について
DMOS構造 について
4H-SiC について
特定オン抵抗 について
トランジスタ について
炭化ケイ素 について
電力MOSFET について
絶縁 について
破壊特性 について