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J-GLOBAL ID：201402275848014185   整理番号：14A0069542

ディペンダブルVLSIシステム 第3章 3.1 VLSIにおける電磁環境雑音概説

著者 (1件)： 永田真 (神戸大)
資料名： 日本信頼性学会誌  (REAJ誌)
巻： 35  号： 8  ページ： 439-440  発行年： 2013年12月01日 
JST資料番号： L2778A  ISSN： 0919-2697  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

抄録/ポイント： VLSIチップおよびVLSIチップ搭載プリント基板の電磁環境両立性(EMC)についてVLSIチップにおける電磁雑音発生と外来電磁雑音に対する感受性評価の方法を示した。VLSIチップがプリント基板中で点電源のごとく振る舞い電磁雑音を発生する状況を示した。電源電流がVLSIチップ内部の直列抵抗に流れることにより電圧が変動し電源雑音およびグラウンド雑音になると述べた。オンチップモニタや近傍磁界プローブを使って電源雑音やVLSIから放射される電磁雑音を観察できることを示した。外来電磁雑音の干渉について伝導電流に対するVLSIチップの応答を観測し,イミュニティ(感受性)評価する国際的標準化された試験方法を示した。

シソーラス用語： 超LSI ,  信頼性 ,  *電磁環境 ,  *電磁波放射 ,  *雑音発生 ,  半導体チップ ,  *CMOS構造 ,  電子装置 ,  電力消費 ,  配線 ,  電圧変動 ,  プリント基板 ,  電磁干渉 ,  *シフトレジスタ ,  *雑音安定度
準シソーラス用語： 環境雑音

分類 (2件)： 固体デバイス計測・試験・信頼性  (NC03040G) ,  半導体集積回路  (NC03162T)

タイトルに関連する用語 (2件)： VLSI ,  環境雑音