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J-GLOBAL ID：201402279582171099   整理番号：14A0443723

5MeV C₆₀⁺イオンを用いた透過二次イオン質量分析

Transmission secondary ion mass spectrometry using 5 MeV C₆₀⁺ ions

著者 (7件)： NAKAJIMA K. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN) ,  NAGANO K. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN) ,  SUZUKI M. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN) ,  NARUMI K. (Takasaki Advanced Radiation Res. Inst., Japan Atomic Energy Agency, 1233 Watanuki-machi, Takasaki, Gumma 370-1292, JPN) ,  SAITOH Y. (Takasaki Advanced Radiation Res. Inst., Japan Atomic Energy Agency, 1233 Watanuki-machi, Takasaki, Gumma 370-1292, JPN) ,  HIRATA K. (National Metrology Inst. of Japan, National Inst. of Advanced Industrial Sci. and Technol., 1-1-1 Higashi, Tsukuba ...) ,  KIMURA K. (Dep. of Micro Engineering, Kyoto Univ., Kyoto 615-8540, JPN)
資料名： Applied Physics Letters  (Applied Physics Letters)
巻： 104  号： 11  ページ： 114103-114103-4  発行年： 2014年03月17日 
JST資料番号： H0613A  ISSN： 0003-6951  CODEN： APPLAB  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 短報  発行国： アメリカ合衆国 (USA)  言語： 英語 (EN)

シソーラス用語： *二次イオン質量分析 ,  *フラーレンC60 ,  イオンビーム ,  クラスタイオン ,  アミノ酸 ,  *質量スペクトル ,  空間分布 ,  芳香族アミン ,  第一アミン

分類 (1件)： 質量分析  (CC03013N)

物質索引 (1件)： フェニルアミン

タイトルに関連する用語 (3件)： イオン ,  透過 ,  二次イオン質量分析