光軸のアクティブシフトに基づく高解像度,雑音耐性,画像技術

USUKI Shin; MIURA Kenjiro T.

文献

J-GLOBAL ID：201402286312334286 整理番号：14A0806000

光軸のアクティブシフトに基づく高解像度,雑音耐性,画像技術

High-Resolution Tolerance Against Noise Imaging Technique Based on Active Shift of Optical Axis

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資料名：
巻： 5 号： 2 ページ： 206-211 発行年： 2011年03月05日
JST資料番号： L0997B ISSN： 1881-7629 資料種別：逐次刊行物 (A)
記事区分：原著論文発行国：日本 (JPN) 言語：英語 (EN)

光学的画像解像度は,光学的画像解像度は,光の波長と対物レンズの開口(NA)のような両光学パラメータおよび電荷結合素子(CCD)カメラの画素サイズのような空間サンプリングによって決定される。光学的画像ピクセルの解像度向上に焦点を当て,著者等は,以前の測定で実施したマルチフレーム超解像(SR)をレビューし,計算コストの高さと計算が長いことが分かった。画像変位推定もまた,画質に悪影響を与え,ノイズに対するSRレジストレーション感度により,実質的に適用することは困難である。著者等が提案した解像度の向上では,ガラス板-平行-基板とガルバノスキャナを用いた空間画像変位をアクティブ制御する方法に基づく,光軸のアクティブサブピクセルシフティングを使用した。マルチフレームSRレジストレーションは画素変位推定を行わないで使用する。理論的には,著者等の提案は,高速で画像分解能をしっかりと改善できるが,これを明確にするため,著者等は光学系を開発しマリチフレームSRを再構築した。次に著者等は変調伝達関数(MTF)を使用し改善された分解能とノイズ耐性を計算的に解析した。高精密測定で,光学および偽信号は抑制され,画像解像度は向上し,より高い解像度が速く安く出来るようになった。(翻訳著者抄録)

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図形・画像処理一般 , 光学的測定とその装置一般

引用文献 (5件)：

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