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J-GLOBAL ID：201402290186363361   整理番号：14A0631983

焦電性単結晶の熱的励起によるX線放射安定性の改善

Improvement of the Stability of X-ray Emission by Thermal Excitation of a Pyroelectric Single Crystal

著者 (7件)： NARUSE Fumihiko (Doshisha Univ., Kyotanabe, JPN) ,  HONDA Hiroyuki (Doshisha Univ., Kyotanabe, JPN) ,  NAKANISHI Yoshikazu (Doshisha Univ., Kyotanabe, JPN) ,  FUKAO Shinji (Doshisha Univ., Kyotanabe, JPN) ,  SATO Yuuki (Doshisha Univ., Kyotanabe, JPN) ,  ITO Yoshiaki (Kyoto Univ., Uji, JPN) ,  YOSHIKADO Shinzo (Doshisha Univ., Kyotanabe, JPN)
資料名： Key Engineering Materials  (Key Engineering Materials)
巻： 582  ページ： 174-177  発行年： 2014年 
JST資料番号： D0744C  ISSN： 1013-9826  資料種別： 逐次刊行物 (A)
記事区分： 原著論文  発行国： スイス (CHE)  言語： 英語 (EN)

抄録/ポイント： 熱的励起による焦電性単結晶からのX線放射は間欠的で,強度と安定性は低い。本研究では,非化学量論的LiTaO₃単結晶を成長し,X線放射安定性の改善を行った。10×10×5mm³形状のLiTaO₃単結晶を用いた。c軸に垂直なz表面を鏡面仕上げし,+z面をPeltier素子に導電ペーストで貼り付け,-z面上15mmにCuターゲットフォイルを配置した。結晶の温度はPeltier素子により制御し,温度変動幅を40°Cとした。放出されたX線スペクトルをSi-PIN X線検出器を用いて測定した。結晶温度のサイクル周期を200から2000sの間で変化し,電荷の正味量の時間依存性を測定した。X線放射の安定性は,温度サイクル周期に強く依存することを明らかにした。

シソーラス用語： *焦電体 ,  *単結晶 ,  *励起 ,  温度依存性 ,  *放射 ,  X線 ,  *安定性 ,  *タンタル酸リチウム ,  電子冷却素子 ,  半導体検出器 ,  銅箔 ,  放射線検出器 ,  電荷 ,  時間依存性 ,  熱サイクル ,  X線検出器 ,  *X線放射 ,  *熱励起 ,  PIN半導体検出器
準シソーラス用語： Peltier素子 ,  PIN型半導体検出器

分類 (1件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z)

タイトルに関連する用語 (4件)： 単結晶 ,  励起 ,  X線放射 ,  安定性