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J-GLOBAL ID：201402292246077390   整理番号：14A0477547

プロトン伝導性アモルファスZrP_2.5Ox薄膜のアニーリングによる微細構造変化

著者 (4件)： 菊谷和正 (北大 大学院) ,  青木芳尚 (北大 大学院) ,  辻悦司 (北大 大学院) ,  幅崎浩樹 (北大 大学院)
資料名： 電気化学会大会講演要旨集
巻： 81st  ページ： 43  発行年： 2014年03月29日 
JST資料番号： Y0048A  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *プロトン伝導 ,  *非晶質 ,  *薄膜 ,  *ジルコニウム化合物 ,  *リン酸塩 ,  化学合成 ,  薄膜成長 ,  電気化学インピーダンス ,  *微細構造 ,  焼なまし ,  電解質 ,  膜 ,  燃料電池 ,  *リン酸ジルコニウム ,  電解質膜 ,  *非晶質薄膜

分類 (5件)： 塩基,金属酸化物  (CD01030Z) ,  混合伝導  (BM03060U) ,  非晶質半導体の構造  (BK04030O) ,  電気化学一般  (CB07010N) ,  その他の無機化合物の薄膜  (BK14060A)

タイトルに関連する用語 (5件)： プロトン伝導性 ,  アモルファス ,  薄膜 ,  アニーリング ,  微細構造