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J-GLOBAL ID：201402294117993863   整理番号：14A0306080

URu₂Si₂における放射光X線構造解析

著者 (9件)： 田端千紘 (北大 理) ,  日高宏之 (北大 理) ,  柳澤達也 (北大 理) ,  横山淳 (茨城大 理) ,  網塚浩 (北大 理) ,  小林賢介 (KEK 物構研) ,  熊井玲児 (KEK 物構研) ,  中尾裕則 (KEK 物構研) ,  村上洋一 (KEK 物構研)
資料名： 物構研サイエンスフェスタ要旨集
巻： 1st  ページ： 34  発行年： 2013年 
JST資料番号： L2365B  資料種別： 会議録 (C)
記事区分： 短報  発行国： 日本 (JPN)  言語： 日本語 (JA)

シソーラス用語： *X線回折 ,  *ウラン合金 ,  ルテニウム含有合金 ,  ケイ素含有合金 ,  金属間化合物 ,  密度分布 ,  秩序パラメータ ,  結晶構造 ,  構造相転移 ,  *X線構造解析 ,  電荷密度分布 ,  *放射光X線回折

分類 (1件)： 金属の結晶構造  (BK06000V)

タイトルに関連する用語 (3件)： URu2Si2 ,  放射光 ,  X線構造解析