特許
J-GLOBAL ID：201403005653061762
タンデム飛行時間型質量分析計
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-238866
公開番号（公開出願番号）：特開2014-089871
出願日： 2012年10月30日
公開日（公表日）： 2014年05月15日
要約：
【課題】質量電荷比の異なる複数の同位体ピークを1本のピークとして収束させた状態で、タンデム飛行時間型質量分析計による構造解析を行なう。【解決手段】第1TOFMSと第2TOFMSの間にバンチング機構を設ける。バンチング機構の内部には、入射したイオンを減速する向きの電場が形成されていて、バンチング機構に深く入射したイオンほど、より大きく飛行速度が減速されるようになっている。【選択図】図3
請求項（抜粋）：
サンプルをイオン化し、繰り返しパルス的に射出するイオン源と、
繰り返し射出されるサンプルイオンを飛行させ、飛行時間の違いによってイオンを質量分離する第1の飛行時間型質量分析部と、
該第1の飛行時間型質量分析部において質量分離されたプリカーサイオンが飛行する飛行経路上に配置されたイオンゲートと、
該イオンゲートを通過したプリカーサイオンを導入して開裂させ、プロダクトイオンを生成させる衝突室と、
該衝突室から取り出されたプロダクトイオンを飛行させ、飛行時間の違いによってイオンを質量分離する第2の飛行時間型質量分析部と、
該第2の飛行時間型質量分析部で質量分離されたプロダクトイオンを検出する検出部と、
を備えたタンデム飛行時間型質量分析計において、
前記第1と第2の飛行時間型質量分析部の間には、
前記プリカーサイオンを減速する向きの電場が形成された第1の飛行空間と、
該第1の飛行空間を通過したプリカーサイオンが加減速されることなく飛行できる第2の飛行空間と、
を備え、
前記衝突室は該第2の飛行空間の内部に置かれていることを特徴とするタンデム飛行時間型質量分析計。
IPC (2件)：
FI (2件)：
Fターム (1件)：
引用特許：
出願人引用 (7件)
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審査官引用 (2件)
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