特許

J-GLOBAL ID：201403012481087027

高温条件下での超音波疲労試験方法および試験装置

発明者： 古谷 佳之
出願人/特許権者： 独立行政法人物質・材料研究機構
代理人 (1件)： 西澤 利夫
公報種別：再公表公報
出願番号（国際出願番号）：JP2012052881
公開番号（公開出願番号）：WO2012-111509
出願日： 2012年02月08日
公開日（公表日）： 2012年08月23日
要約：

事前のヤング率計測が不要な高温条件下での超音波疲労試験方法と試験装置を提供する。また、ホーンの水冷が不必要で、振動子を保護するための断熱性を確保することができ、試験片の端面変位を非接触計測することができ、試験片の非接触測温と温度制御の問題点を解決できる高温条件下での超音波疲労試験方法と試験装置を提供する。 ヤング率を逆計算により算出し、耐熱性と断熱性および試験片の温度対称性を具備するロッドおよびホーンを使用し、斜め方向からレーザー光の照射・受光により端面変位を測定し、黒体塗料および2色式放射温度計による試験片の非接触測温と特殊形状の高周波コイルによる温度制御を行うことを特徴としている。

請求項（抜粋）：

高温条件下での超音波疲労試験方法であって、共振周波数の測定結果から温度に対応したヤング率を逆計算により算出し、疲労負荷条件を制御することを特徴とする高温条件下での超音波疲労試験方法。

IPC (1件)：

G01N 3/32

FI (1件)：

G01N3/32 Z

Fターム (6件)：

2G061AB05 ,  2G061AC03 ,  2G061BA15 ,  2G061CA01 ,  2G061EA07 ,  2G061EB07