特許
J-GLOBAL ID：201403012730133760
伝送路障害試験装置及び伝送路の障害試験方法
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
川上 光治
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-065474
公開番号（公開出願番号）：特開2014-192657
出願日： 2013年03月27日
公開日（公表日）： 2014年10月06日
要約：
【課題】伝送路の障害試験が可能な環境を提供できるようにする。【解決手段】伝送路障害試験装置1は、第1の情報処理機器2から第2の情報処理機器3へのパケットが送信される伝送路5の光レベルを調整する光調節器22を有し、LESB受信器23で光レベルを減衰させたときのリンクフェイルの発生回数と、CRCエラーの発生回数を第2の情報処理機器2から取得する。制御装置24は、リンクフェイルが発生する光減衰量より減衰量が少ない領域で最もCRCエラーの発生回数が多い光減衰量を伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
複数の情報処理機器の間の光通信に使用される伝送路中に設けられ、前記伝送路の光レベルを調整可能な光調節器と、
前記情報処理機器から出力される前記伝送路の通信状態の情報に基づいて、前記伝送路のリンクフェイルが発生するまで前記光調節器の光減衰量を増加させ、CRC(Cyclic Redundancy Check)エラーが最も多く発生する光減衰量を前記伝送路の障害試験用の光減衰量に決定する制御装置と、
を含むことを特徴とする伝送路障害試験装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H04B9/00 177
, H04B17/00 R
5K042CA10
, 5K042DA27
, 5K042EA06
, 5K042EA07
, 5K102AA65
, 5K102LA31
, 5K102LA51
, 5K102MH07
, 5K102MH14
, 5K102MH21
, 5K102MH32
, 5K102PH42
