特許
J-GLOBAL ID：201403019837092092
顕著性分析装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (6件)：
藤枡 裕実
, 深町 圭子
, 伊藤 英生
, 後藤 直樹
, 伊藤 裕介
, 立石 英之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-038627
公開番号（公開出願番号）：特開2014-167673
出願日： 2013年02月28日
公開日（公表日）： 2014年09月11日
要約：
【課題】トップダウン型注意とボトムアップ型注意の相関関係を示す情報を生成することができる顕著性分析装置を提供する。【解決手段】本発明にかかる顕著性分析装置は,入力画像の顕著性マップを生成する装置で,入力画像の顕著性マップを生成する機能に加え,入力画像から生成した顕著性マップを参照し,トップダウン型注意にかかる関心領域(例えば,選択範囲)と顕著性との関係を示す顕著性評価情報(例えば,顕著性マップ上に関心領域を表示する画像)を生成する機能を有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
指定された入力画像の顕著性マップを生成する顕著性マップ生成手段と,トップダウン型注意にかかる関心領域を指定する操作がなされると,前記入力画像の顕著性マップを参照して,前記関心領域と顕著性との関係を示す顕著性評価情報を生成する顕著性評価手段を備えたことを特徴とする顕著性分析装置。
IPC (1件)：
FI (2件)：
G06T7/00 G
, G06T7/00 300F
5L096AA02
, 5L096AA06
, 5L096FA06
, 5L096JA11
