特許
J-GLOBAL ID:201403021035462573
半導体装置
発明者:
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出願人/特許権者:
代理人 (1件):
家入 健
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2013-028134
公開番号(公開出願番号):特開2014-158176
出願日: 2013年02月15日
公開日(公表日): 2014年08月28日
要約:
【課題】従来のフリップフロップは、消費電力を十分に削減できない問題があった。【解決手段】一実施の形態によれば、半導体装置は、入力データと出力データの不一致を検出して不一致検出信号S11を出力する不一致検出回路11と、不一致検出信号S11と動作クロック信号CKSとに基づき内部クロック信号CKxを生成するセットリセットラッチ12と、内部クロック信号CKxをトリガ信号として入力データを保持するデータ保持部15と、を有し、セットリセットラッチを反転論理和回路又は反転論理積回路により構成する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
入力データと出力データの不一致を検出して、不一致検出信号を出力する不一致検出回路と、
セット入力端子とリセット入力端子との一方に前記不一致検出信号が入力され、前記セット入力端子と前記リセット入力端子との他方に動作クロック信号が入力され、前記不一致検出回路と前記動作クロック信号とに基づき内部クロック信号を生成するセットリセットラッチと、
前記内部クロック信号をトリガ信号として前記入力データを保持するデータ保持部と、を有し、
前記セットリセットラッチは、
反転論理和回路と反転論理積回路とのいずれか一方により構成される半導体装置。
IPC (1件):
FI (1件):
Fターム (3件):
5J043AA03
, 5J043JJ01
, 5J043JJ05
引用特許:
審査官引用 (7件)
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非同期スキャン設計の技術および方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願平6-316095
出願人:モトローラ・インコーポレイテッド
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特開平4-207519
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シュミットトリガ回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-247320
出願人:富士通マイクロエレクトロニクス株式会社
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電子回路およびその構成方法
公報種別:公開公報
出願番号:特願2007-269557
出願人:株式会社東芝
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故障診断装置
公報種別:公開公報
出願番号:特願2000-112945
出願人:株式会社東芝
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特開平4-207519
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フリップフロップ回路
公報種別:公開公報
出願番号:特願平10-141491
出願人:日本電気株式会社
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