特許

J-GLOBAL ID：201403036756464973

超音波測定装置及び超音波画像装置

発明者： 林 正樹 ,  渡邊 亮基
出願人/特許権者： セイコーエプソン株式会社
代理人 (3件)： 上柳 雅誉 ,  宮坂 一彦 ,  渡辺 和昭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-053229
公開番号（公開出願番号）：特開2014-176544
出願日： 2013年03月15日
公開日（公表日）： 2014年09月25日
要約：

【課題】超音波プローブの傾き情報を取得し、超音波プローブが傾いている場合に、ユーザーに対して報知することができる超音波測定装置及び超音波画像装置等を提供すること。【解決手段】超音波測定装置100は、超音波の送信処理を行う送信部110と、超音波エコーの受信処理を行う受信部120と、超音波測定の制御処理を行う処理部130とを含む。処理部130は、被検体と超音波測定用シート200との境界面からの超音波エコー又は超音波測定用シート200からの超音波エコーによる受信信号に基づいて、超音波プローブ300の傾き情報を取得する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

超音波の送信処理を行う送信部と、 超音波エコーの受信処理を行う受信部と、 超音波測定の制御処理を行う処理部と、 を含み、 前記処理部は、 被検体と超音波測定用シートとの境界面からの超音波エコー又は前記超音波測定用シートからの超音波エコーによる受信信号に基づいて、超音波プローブの傾き情報を取得することを特徴とする超音波測定装置。

IPC (1件)：

A61B 8/00

FI (1件)：

A61B8/00

Fターム (7件)：

4C601BB17 ,  4C601DD02 ,  4C601EE09 ,  4C601GA21 ,  4C601GC03 ,  4C601JB38 ,  4C601LL19

引用特許：

審査官引用 (2件)

• 超音波診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2007-008790   出願人：独立行政法人産業技術総合研究所
• 超音波探触子及び超音波診断装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2003-300325   出願人：株式会社日立メディコ