特許
J-GLOBAL ID：201403037233799501

誤り率測定表示装置及び方法

発明者：
齋藤 岳人

齋藤 岳人 について


出願人/特許権者：
アンリツ株式会社

アンリツ株式会社 について


代理人 (2件)： 西村 教光 ,  鈴木 典行
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-214602
公開番号（公開出願番号）：特開2014-072547
特許番号：特許第5580862号
出願日： 2012年09月27日
公開日（公表日）： 2014年04月21日
請求項（抜粋）：
【請求項1】2値の位相変調を行う複数のポートを有するX/Y偏波用の2つのQPSK変調回路と、偏波直交合成のための空間光学系部を備えるDP-QPSK方式のLN光変調器を被試験デバイスとし、前記被試験デバイスに対してビット誤り測定試験用の基準データを表す信号を送信し、前記被試験デバイスの各ポートから送信された信号の入力データと前記基準データとから前記被試験デバイスにおけるビット誤り測定試験を行う複数のビット誤り測定部(19)と、 前記被試験デバイスから直交する偏波成分と直交する位相成分とを分離した状態で信号を入力して位相成分毎に多重化した入力データの測定結果を詳細表示する詳細表示エリア(E2)と、前記直交する偏波成分と前記直交する位相成分とで分けられた入力データ毎の簡易的な測定結果を全て表示する簡易表示エリア(E3)と、 を少なくとも一画面上にエリア分けした状態で有する測定結果表示画面(S)を表示部(16)の表示画面上に表示制御する表示制御部(15)と、 を備えたことを特徴とする誤り率測定表示装置。
IPC (2件)：
H04L 1/00 ( 200 6.01) ,  H04L 29/14 ( 200 6.01)
FI (2件)：
H04L 1/00 C ,  H04L 13/00 315 Z
引用特許：
出願人引用 (4件)
全件表示
審査官引用 (3件)

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