特許
J-GLOBAL ID：201403044472150173

吸収スペクトル解析装置、物質の吸収スペクトルのベースライン設定方法、及びコンピュータプログラム

発明者：
吉岡 宏哲

吉岡 宏哲 について


出願人/特許権者：
有限会社アイリス

有限会社アイリス について


代理人 (1件)： 右田 敏之
公報種別：特許公報
出願番号（国際出願番号）：特願2013-254591
特許番号：特許第5621154号
出願日： 2013年12月10日
要約：
【課題】検量線を用いることなく吸収スペクトルのベースラインを設定することが可能な吸収スペクトル解析装置、物質の吸収スペクトルのベースライン設定方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 【解決手段】 太陽を光源とした赤外分光法にて測定された吸収スペクトルの実測値の複数のピークにおける波数を特定し、特定された複数の波数のそれぞれに対応する吸収スペクトルの理論値の透過率を特定し、特定された各透過率を補間して理論値補間ラインを生成する。また、吸収スペクトルの理論値の複数のピークにおける波数を特定し、特定された複数の波数のそれぞれに対応する吸収スペクトルの実測値の透過率を特定し、特定された各透過率を補間して実測値補間ラインを生成する。理論値補間ラインと実測値補間ラインを波数毎に平均して得た線を、ベースラインとして設定する。 【選択図】 図6
請求項（抜粋）：
【請求項1】 波長又は波数と特定の物質の吸光度又は透過率との関係を示す吸収スペクトルの実測値と、波長又は波数と前記特定の物質の吸光度又は透過率との関係を示す吸収スペクトルの理論値とに基づいて、前記特定の物質の吸収スペクトルのベースラインを設定する吸収スペクトル解析装置であって、 前記特定の物質の吸収スペクトルの測定データを取得する実測値取得手段と、 前記特定の物質の吸収スペクトルの理論値を取得する理論値取得手段と、 前記実測値取得手段によって取得された前記測定データに基づいて、吸光度又は透過率の実測値の複数のピークにおける波長又は波数を特定する第1波長・波数特定手段と、 前記第1波長・波数特定手段によって特定された複数の波長又は波数における前記吸収スペクトルの理論値の吸光度又は透過率を特定する理論値特定手段と、 前記理論値取得手段によって取得された前記吸収スペクトルの理論値に基づいて、吸光度又は透過率の理論値の複数のピークにおける波長又は波数を特定する第2波長・波数特定手段と、 前記第2波長・波数特定手段によって特定された複数の波長又は波数における前記吸収スペクトルの実測値の吸光度又は透過率を特定する実測値特定手段と、 前記理論値特定手段によって特定された複数の理論値を補間して、理論値補間ラインを生成する第1補間ライン生成手段と、 前記実測値特定手段によって特定された複数の実測値を補間して、実測値補間ラインを生成する第2補間ライン生成手段と、 前記第1補間ライン生成手段によって生成された前記理論値補間ラインと、前記第2補間ライン生成手段によって生成された前記実測値補間ラインとを、波長又は波数毎に平均した結果を、前記特定の物質の吸収スペクトルのベースラインとして設定するベースライン設定手段と、 を備える、 吸収スペクトル解析装置。
IPC (3件)：
G01N 21/27 ( 200 6.01) ,  G01N 21/3504 ( 201 4.01) ,  G01N 21/359 ( 201 4.01)
FI (3件)：
G01N 21/27 F ,  G01N 21/35 101 ,  G01N 21/35 107
引用特許：
審査官引用 (4件)
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