特許
J-GLOBAL ID：201403044805096970

テラヘルツパルス波を用いた粉末中の異物検出装置および異物検出方法

発明者：
深澤 亮一

深澤 亮一 について

, 
富永 成典

富永 成典 について


出願人/特許権者：
ニプロ株式会社

ニプロ株式会社 について


代理人 (1件)： 特許業務法人あーく特許事務所
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-137127
公開番号（公開出願番号）：特開2014-002024
出願日： 2012年06月18日
公開日（公表日）： 2014年01月09日
要約：
【課題】包装表面が樹脂シートで裏面がアルミシートでできた容器内に封入された粉末の中の異物を正確に検出可能な、テラヘルツパルス波を用いた粉末中の異物検出装置および異物検出方法を提供する。【解決手段】テラヘルツパルス波を発生して照射光として発する発振部11と、前記照射光を前記容器の前記第1部位に導くとともにこの容器からの反射光を集光する光学系12と、集光された前記反射光に応じた信号を出力するとともにエコーも計測する受信部13と、前記照射光が導かれる前記第1部位上での位置を2次元に走査する走査機構14と、前記受信部から時系列的に出力される時間波形信号、反射画像、パワースペクトル、断層画像、および周波数画像の少なくとも1つに基づいて、容器20内の粉末中の異物21を検出する演算部15とを備える。【選択図】図2
請求項（抜粋）：
テラヘルツパルス波の大部分を透過させる第1部位と、テラヘルツパルス波を透過させずに反射する第2部位とを有する容器内に収納された粉末中の異物を検出する異物検出装置であって、 テラヘルツパルス波を発生して照射光として発する発振部と、 この発振部から発せられた前記照射光を前記容器の前記第1部位に導くとともにこの容器から反射された反射光を集光する光学系と、 この光学系によって集光された前記反射光に応じた信号を出力するとともにエコーも計測する受信部と、 前記光学系によって前記照射光が導かれる前記第1部位上での位置を2次元に走査する走査機構と、 前記受信部から時系列的に出力される時間波形信号に対応した値、前記時間波形信号を時間積算した値を各画素値とする反射画像、前記時間波形信号をフーリエ変換によって算出されたパワースペクトル、前記エコーの計測結果から得られる断層画像、および前記時間波形信号をフーリエ変換によって算出された値を各画素値とする周波数画像の少なくとも1つに基づいて、前記容器内の前記粉末中の異物を検出する演算部と を備えることを特徴とする異物検出装置。
IPC (3件)：
G01V 8/10 ,  G01N 21/35 ,  G01N 21/27
FI (3件)：
G01V9/04 S ,  G01N21/35 Z ,  G01N21/27 A
Fターム (15件)：
2G059AA05 ,  2G059BB09 ,  2G059BB12 ,  2G059CC16 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059FF01 ,  2G059GG08 ,  2G059HH01 ,  2G059JJ11 ,  2G059JJ15 ,  2G059JJ22 ,  2G059KK01 ,  2G059MM01 ,  2G059MM09
引用特許：
出願人引用 (5件)
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審査官引用 (5件)
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