特許

J-GLOBAL ID：201403044975717979

蛍光顕微装置および方法

発明者： 吉成洋祐
出願人/特許権者： 日本電子株式会社
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-203791
公開番号（公開出願番号）：特開2014-059192
出願日： 2012年09月18日
公開日（公表日）： 2014年04月03日
要約：

【課題】蛍光計測を通して距離を評価していたFRET法に比べ、長距離情報を導出する。【解決手段】(1)互いに直交した3軸方向から静磁場を合成印加できる電磁石システム、(2)該電磁石システムが発生する静磁場の印加角度を変えながら蛍光体で標識された常磁性ナノ粒子の蛍光検出磁気共鳴スペクトルを測定する蛍光検出磁気共鳴測定部、(3)蛍光検出磁気共鳴スペクトルの蛍光強度の静磁場方向に対する角度依存性から蛍光体と常磁性ナノ粒子の間の距離を求める演算部、を備えた。【選択図】図10

請求項（抜粋）：

(1)互いに直交した3軸方向から静磁場を合成印加できる電磁石システム、 (2)該電磁石システムが発生する静磁場の印加方向を変えながら蛍光体で標識された常磁性微粒子の蛍光検出磁気共鳴スペクトルを測定する蛍光検出磁気共鳴測定部、 (3)蛍光検出磁気共鳴スペクトルの蛍光強度の静磁場方向に対する角度依存性から蛍光体と常磁性微粒子の間の距離を求める演算部、 を備えたことを特徴とする蛍光顕微装置。

IPC (2件)：

G01N 21/64 ,  G02B 21/06

FI (3件)：

G01N21/64 E ,  G01N21/64 F ,  G02B21/06

Fターム (24件)：

2G043AA03 ,  2G043BA16 ,  2G043DA08 ,  2G043EA01 ,  2G043FA01 ,  2G043FA02 ,  2G043GA07 ,  2G043GB02 ,  2G043GB13 ,  2G043GB16 ,  2G043HA01 ,  2G043HA02 ,  2G043JA02 ,  2G043LA03 ,  2G043NA01 ,  2H052AA09 ,  2H052AB01 ,  2H052AB14 ,  2H052AC04 ,  2H052AC27 ,  2H052AC34 ,  2H052AD16 ,  2H052AF02 ,  2H052AF11

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 蛍光顕微鏡装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2010-109527   出願人：国立大学法人京都大学, 日本電子株式会社