特許

J-GLOBAL ID：201403046234814120

CTスキャナの幾何学的較正のための方法及び装置

発明者： チャーチン・ドン ,  シュオ・リ ,  ジュン・リ ,  ビン・ワン
出願人/特許権者： ジーイー・メディカル・システムズ・グローバル・テクノロジー・カンパニー・エルエルシー
代理人 (4件)： 荒川 聡志 ,  小倉 博 ,  黒川 俊久 ,  田中 拓人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2014-015144
公開番号（公開出願番号）：特開2014-147757
出願日： 2014年01月30日
公開日（公表日）： 2014年08月21日
要約：

【課題】アーティファクトを解消し、変調伝達関数(MTF)を改善する。【解決手段】検出器セル列の各々の列毎に、未知の幾何学的パラメータを含むCTスキャナの完全な幾何学的記述を確定し、上述の完全な幾何学的記述を用いて順投影関数の記述を確定し、現在の検出器セル列において複数の角度に対応する走査視野(SFOV)に配置された較正ファントムの実際の投影座標を取得し、上述の順投影関数の記述を用いて、現在の検出器セル列において複数の角度に対応する較正ファントムの算出された投影座標を取得し、非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムを介して取得された実際の投影座標及び算出された投影座標に基づいて上述の未知の幾何学的パラメータを評価することにより上述の少なくとも1個の未知の幾何学的パラメータについての較正後の値を取得する。【選択図】図3

請求項（抜粋）：

少なくとも1列の検出器セル列を有する計算機式断層写真法(CT)スキャナの幾何学的較正のための方法であって、前記少なくとも1列の検出器セル列の各々の列毎に、下記の各ステップすなわち 少なくとも1個の未知の幾何学的パラメータを含む前記CTスキャナの完全な幾何学的記述を確定する幾何学的記述確定ステップと、 前記完全な幾何学的記述を用いて順投影関数の記述を確定する順投影関数確定ステップと、 現在の検出器セル列において複数の角度に対応する走査視野(SFOV)に配置された較正ファントムの実際の投影座標を取得する実際投影座標取得ステップと、 前記順投影関数の前記記述を用いて、前記現在の検出器セル列において前記複数の角度に対応する前記較正ファントムの算出された投影座標を取得する算出投影座標取得ステップと、 非線形最小自乗フィッティング・アルゴリズムを介して前記取得された実際の投影座標及び算出された投影座標に基づいて前記少なくとも1個の未知の幾何学的パラメータを評価することにより前記少なくとも1個の未知の幾何学的パラメータについての較正後の値を取得する較正後値取得ステップと を実行することを備えた方法。

IPC (1件)：

A61B 6/03

FI (1件)：

A61B6/03 350H

Fターム (9件)：

4C093AA22 ,  4C093CA08 ,  4C093CA13 ,  4C093EB17 ,  4C093FC12 ,  4C093FC17 ,  4C093FC19 ,  4C093FD08 ,  4C093GA02

引用特許：

出願人引用 (4件)

• 連続X線エネルギー周波数分布算出方法および装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-258011   出願人：キヤノン株式会社
• X線断層撮像装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平8-303027   出願人：株式会社日立メディコ
• X線画像形成装置の幾何学的較正を行うための装置と、それを自動的に行う方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平6-024818   出願人：ジーイーメディカルシステムズソシエテアノニム
• 特開平3-205034