特許
J-GLOBAL ID：201403047951096298
半導体集積回路および物体距離計測装置
発明者：
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出願人/特許権者：
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代理人 (4件)：
筒井 大和
, 菅田 篤志
, 筒井 章子
, 坂次 哲也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-169102
公開番号（公開出願番号）：特開2014-029268
出願日： 2012年07月31日
公開日（公表日）： 2014年02月13日
要約：
【課題】擬似スリット光を用いた光切断法による物体の距離計測において、物体の形状や位置によっては、拡散光が物体に照射されることにより距離計測の結果に誤差が生じる場合があった。【解決手段】光源11からの拡散光が照射された物体2をカメラ12により撮像して得た撮像データにおける撮像面上に、棒状物に前記拡散光が照射された状態とみなせる領域が存在するか否かを判定する補正対象物判定部21と、前記撮像データにおける前記拡散光の輝度分布の情報に基づいて前記拡散光の光源中心位置を推定し、前記光源中心位置を第1の測量点とする測量点計算部22と、前記撮像データにおける撮像面の中央と前記第1の測量点との間の水平方向距離と、カメラ12と光源11の位置、およびカメラ12の撮像方向角度とに基づいて、三角測量により前記第1の測量点における物体2とカメラ12との間の距離を計算する距離計算部23とを有する。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
光源からの拡散光が照射された物体をカメラにより撮像して得た撮像データにおける撮像面上に、棒状物に前記拡散光が照射された状態とみなせる領域が存在するか否かを判定する補正対象物判定部と、
前記撮像データにおける撮像面上に棒状物に前記拡散光が照射された状態とみなせる領域が存在する場合に、前記撮像データにおける前記拡散光の輝度分布の情報に基づいて前記拡散光の光源中心位置を推定し、前記光源中心位置を第1の測量点とする測量点計算部と、
前記撮像データにおける撮像面の中央と前記第1の測量点との間の水平方向距離と、前記カメラと前記光源の位置、および前記カメラの撮像方向角度とに基づいて、三角測量により前記第1の測量点における前記物体と前記カメラもしくは前記光源との間の距離を計算する距離計算部とを有する、半導体集積回路。
IPC (1件)：
FI (1件)：
Fターム (17件)：
2F065AA06
, 2F065AA17
, 2F065BB06
, 2F065BB08
, 2F065FF01
, 2F065FF02
, 2F065FF09
, 2F065FF41
, 2F065GG13
, 2F065HH02
, 2F065HH05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ08
, 2F065JJ26
, 2F065QQ17
, 2F065QQ41
, 2F065QQ42
