特許

J-GLOBAL ID：200903007010767008

光切断法による3次元形状測定装置

発明者： 吉澤 徹 ,  大谷 幸利 ,  青柳 泰士
出願人/特許権者： 協南精機株式会社 ,  吉澤 徹 ,  大谷 幸利
代理人 (1件)： 土橋 博司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-241695
公開番号（公開出願番号）：特開2009-074814
出願日： 2007年09月19日
公開日（公表日）： 2009年04月09日
要約：

【課題】光切断法を原理とする3次元形状測定装置に関し、特に、物体に投影するスリット光パターンを液晶素子で作成することにより、紙幣のような3次元的な凹凸検査においてμmオーダーでの高精度な計測を可能としたものである。【解決手段】白色光源と、該白色光源と測定される物体の間に設けられ該物体の表面にスリット光を投影する液晶素子と、投影レンズとからなるスリット光投影光学系と、撮像レンズと、CCDカメラとからなるスリット光撮像光学系とを備え、画像データ解析手段により取得した前記スリット光で構成される画像データを解析して、物体の3次元座標を算出するようにしたことを特徴とする光切断法による3次元形状測定装置。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

白色光源やLED光源などの光源と、該光源と測定される物体の間に設けられ該物体の表面にスリット光を投影する液晶素子と、投影レンズとからなるスリット光投影光学系と、撮像レンズと、CCDカメラとからなるスリット光撮像光学系とを備え、画像データ解析手段により取得した前記スリット光で構成される画像データを解析して、物体の3次元座標を算出するようにしたことを特徴とする光切断法による3次元形状測定装置。

IPC (1件)：

G01B 11/24

FI (1件)：

G01B11/24 K

Fターム (22件)：

2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC16 ,  2F065FF01 ,  2F065FF02 ,  2F065FF09 ,  2F065GG07 ,  2F065GG24 ,  2F065HH05 ,  2F065HH06 ,  2F065HH12 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ09 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL41 ,  2F065LL65 ,  2F065MM16 ,  2F065QQ17 ,  2F065QQ24 ,  2F065QQ25 ,  2F065QQ29 ,  2F065QQ41

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 格子パターン投影法を用いた3次元形状測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平9-245272   出願人：シチズン時計株式会社

審査官引用 (4件)

• 3次元情報取り込み方式
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平3-328670   出願人：ファナック株式会社
• 3次元形状測定装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-283803   出願人：フジノン株式会社
• 凹版印刷物とその他の印刷物との識別方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-350527   出願人：村岡繁太郎
• 紙幣識別方法
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-107702   出願人：村岡繁太郎

引用文献：

審査官引用 (1件)

• モアレ法とパターン投影法による高性能新紙幣識別センサーの開発