特許
J-GLOBAL ID：201403047960010037

面状発熱体およびそれを具備する画像定着装置

発明者：
寿藤 進

寿藤 進 について

, 
吉田 英一

吉田 英一 について

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向山 泉

向山 泉 について

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氏原 淳二

氏原 淳二 について


出願人/特許権者：
コニカミノルタ株式会社

コニカミノルタ株式会社 について


代理人 (2件)： 鷲田 公一 ,  木曽 孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2012-188464
公開番号（公開出願番号）：特開2014-048307
出願日： 2012年08月29日
公開日（公表日）： 2014年03月17日
要約：
【課題】一対の金属電極を有する面状発熱体であるにも係わらず、電極と発熱体との接着性が高い面状発熱体を提供する。【解決手段】本発明の面状発熱体は、導電性物質と樹脂とを含む導電性樹脂組成物からなる面状成形物と、前記面状成形物に接続された一対の板状金属電極とを有する。この面状発熱体の、金属電極の表面近傍における面状成形物における、金属元素の最大のピーク(M)とケイ素のピーク(Si)との比(Si/M)は、1/100〜1である。ピークM及びピークSiは、走査型電子顕微鏡-エネルギー分散型X線分析装置(SEM-EDS)によって測定される。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
少なくとも、導電性物質と樹脂とを含む導電性樹脂組成物からなる面状成形物と、前記面状成形物の端部に接着する一対の板状金属電極とを有する面状発熱体であって、 前記板状金属電極表面からの距離が1μm以下の前記面状成形物の部位において、最も多く含有される金属イオンMとケイ素原子Siのピークの面積比(Si/M)が1/100〜1であり、 前記ピークは、前記部位へX線を照射したときに前記部位から発生するX線をSEM-EDSによって測定して得られることを特徴とする面状発熱体。
IPC (3件)：
G03G 15/20 ,  H05B 3/03 ,  H05B 3/00
FI (4件)：
G03G15/20 510 ,  G03G15/20 505 ,  H05B3/03 ,  H05B3/00 335
Fターム (28件)：
2H033AA23 ,  2H033AA31 ,  2H033BA11 ,  2H033BA25 ,  2H033BA26 ,  2H033BB13 ,  2H033BB14 ,  2H033BB15 ,  2H033BB18 ,  2H033BB19 ,  2H033BB21 ,  2H033BB22 ,  2H033BB26 ,  2H033BB28 ,  2H033BE00 ,  3K058AA28 ,  3K058BA18 ,  3K058DA11 ,  3K058GA06 ,  3K092PP18 ,  3K092QA05 ,  3K092QB25 ,  3K092QC19 ,  3K092QC27 ,  3K092RF02 ,  3K092RF17 ,  3K092RF18 ,  3K092VV31
引用特許：
審査官引用 (4件)
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