特許
J-GLOBAL ID:201403051156903948
EMM-22分子篩材料、その合成および使用
発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件):
辻居 幸一
, 熊倉 禎男
, 箱田 篤
, 浅井 賢治
, 山崎 一夫
, 市川 さつき
, 小林 真知
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-526036
公開番号(公開出願番号):特表2014-524406
出願日: 2012年07月24日
公開日(公表日): 2014年09月22日
要約:
EMM-22と命名された分子篩材料は、その焼成された状態において、表2に与えられているピークを含むX-線回折パターンを有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
焼成したままの状態において、以下の表1に記載のピークを含むX-線回折パターンを有する、分子篩材料:
IPC (3件):
C01B 39/48
, B01J 29/70
, B01J 35/10
FI (3件):
C01B39/48
, B01J29/70 Z
, B01J35/10 301A
Fターム (49件):
4G073BA02
, 4G073BA04
, 4G073BA57
, 4G073BA63
, 4G073BA69
, 4G073BA75
, 4G073BB06
, 4G073BB07
, 4G073BB12
, 4G073BB48
, 4G073BD07
, 4G073BD13
, 4G073CZ05
, 4G073CZ41
, 4G073FC04
, 4G073FC13
, 4G073FC19
, 4G073GA01
, 4G073GA03
, 4G073GA19
, 4G073UA03
, 4G073UA06
, 4G169AA02
, 4G169AA08
, 4G169AA12
, 4G169BA07A
, 4G169BA07B
, 4G169BA21C
, 4G169BA38
, 4G169BE17C
, 4G169BE36C
, 4G169CC07
, 4G169EC07X
, 4G169EC07Y
, 4G169EC25
, 4G169EC27
, 4G169FB10
, 4G169FB30
, 4G169FB36
, 4G169FB57
, 4G169FC03
, 4G169FC08
, 4G169ZA32A
, 4G169ZA32B
, 4G169ZB08
, 4G169ZC02
, 4G169ZC04
, 4G169ZC07
, 4G169ZD03
引用特許:
前のページに戻る