特許
J-GLOBAL ID:201403051156903948

EMM-22分子篩材料、その合成および使用

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (7件): 辻居 幸一 ,  熊倉 禎男 ,  箱田 篤 ,  浅井 賢治 ,  山崎 一夫 ,  市川 さつき ,  小林 真知
公報種別:公表公報
出願番号(国際出願番号):特願2014-526036
公開番号(公開出願番号):特表2014-524406
出願日: 2012年07月24日
公開日(公表日): 2014年09月22日
要約:
EMM-22と命名された分子篩材料は、その焼成された状態において、表2に与えられているピークを含むX-線回折パターンを有する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
焼成したままの状態において、以下の表1に記載のピークを含むX-線回折パターンを有する、分子篩材料:
IPC (3件):
C01B 39/48 ,  B01J 29/70 ,  B01J 35/10
FI (3件):
C01B39/48 ,  B01J29/70 Z ,  B01J35/10 301A
Fターム (49件):
4G073BA02 ,  4G073BA04 ,  4G073BA57 ,  4G073BA63 ,  4G073BA69 ,  4G073BA75 ,  4G073BB06 ,  4G073BB07 ,  4G073BB12 ,  4G073BB48 ,  4G073BD07 ,  4G073BD13 ,  4G073CZ05 ,  4G073CZ41 ,  4G073FC04 ,  4G073FC13 ,  4G073FC19 ,  4G073GA01 ,  4G073GA03 ,  4G073GA19 ,  4G073UA03 ,  4G073UA06 ,  4G169AA02 ,  4G169AA08 ,  4G169AA12 ,  4G169BA07A ,  4G169BA07B ,  4G169BA21C ,  4G169BA38 ,  4G169BE17C ,  4G169BE36C ,  4G169CC07 ,  4G169EC07X ,  4G169EC07Y ,  4G169EC25 ,  4G169EC27 ,  4G169FB10 ,  4G169FB30 ,  4G169FB36 ,  4G169FB57 ,  4G169FC03 ,  4G169FC08 ,  4G169ZA32A ,  4G169ZA32B ,  4G169ZB08 ,  4G169ZC02 ,  4G169ZC04 ,  4G169ZC07 ,  4G169ZD03
引用特許:
審査官引用 (6件)
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