特許
J-GLOBAL ID:201403052366952786

平判紙の積層状態不良検知方法および平判紙積層状態不良検知装置

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (5件): 森 哲也 ,  小西 恵 ,  田中 秀▲てつ▼ ,  廣瀬 一 ,  宮坂 徹
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願2012-179695
公開番号(公開出願番号):特開2014-038013
出願日: 2012年08月14日
公開日(公表日): 2014年02月27日
要約:
【課題】後工程で問題が発生する状態や見栄えの問題がある状態を確実に検知することのできる、平判紙の積層状態不良検知方法と平判紙積層状態不良検知装置を提供する。【解決手段】多数の平判紙からなる積層物2の側面に対して下向きに傾斜した角度で積層物の周囲に配置されたレーザ照射装置3〜6から積層物2の各側面にレーザ光Lを積層物2の高さ方向に沿って線状に照射すると共に、積層物2の各側面を積層物2の側面に対して下向きに傾斜した角度で積層物の周囲に配置された撮像装置7,8により撮像する。積層物2の各側面に照射されたレーザ光Lの照射軌跡が積層物2の高さ方向に連続する照射軌跡であるか否かを撮像装置7,8で得られた画像から判定して平判紙の積層状態の不良を検知する。【選択図】図1
請求項(抜粋):
一定寸法に裁断された平判紙を積層してなる積層物に平判紙の積層状態の不良があるか否かを検知する方法であって、 前記積層物の側面に対して下向きに傾斜した角度で積層物の周囲に配置されたレーザ照射装置から前記積層物の各側面にレーザ光を前記積層物の高さ方向に沿って線状に照射すると共に、前記積層物の各側面を前記積層物の側面に対して下向きに傾斜した角度で積層物の周囲に配置された撮像装置により撮像し、前記撮像装置から出力された画像信号を処理して前記レーザ光の照射軌跡を表わす二値化画像を作成し、前記レーザ光の照射軌跡が前記積層物の高さ方向に連続する照射軌跡であるか否かを判定することによって、前記平判紙の積層状態の不良を検知することを特徴とする平判紙の積層状態不良検知方法。
IPC (2件):
G01B 11/25 ,  G01N 21/88
FI (2件):
G01B11/25 H ,  G01N21/88 Z
Fターム (33件):
2F065AA12 ,  2F065AA18 ,  2F065AA45 ,  2F065AA53 ,  2F065BB05 ,  2F065CC00 ,  2F065DD03 ,  2F065FF04 ,  2F065FF09 ,  2F065GG04 ,  2F065HH05 ,  2F065HH12 ,  2F065HH14 ,  2F065JJ03 ,  2F065JJ05 ,  2F065JJ08 ,  2F065JJ26 ,  2F065LL08 ,  2F065PP15 ,  2F065QQ03 ,  2F065QQ05 ,  2F065QQ21 ,  2F065SS02 ,  2F065SS09 ,  2F065SS13 ,  2G051AA01 ,  2G051AB02 ,  2G051BA02 ,  2G051BA10 ,  2G051BB02 ,  2G051CA04 ,  2G051CB01 ,  2G051CB05
引用特許:
出願人引用 (6件)
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審査官引用 (6件)
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